Wykaz publikacji wybranego autora

Halina Niemiec, dr inż.

adiunkt

* Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki
WEAIiE-ke, Katedra Elektroniki


ORCID: brak
ResearcherID: brak



Opisy publikacji wcześniejszych zobacz: bpp.agh.edu.pl/old.


Liczba pozycji spełniających powyższe kryteria selekcji: 8, z ogólnej liczby 8 publikacji Autora


1
  • Development of a monolithic active pixel sensor using SOI technology with a thick device layer / J. Marczewski, P. Grabiec, K. Kucharski, D. Tomaszewski, W. KUCEWICZ, T. Kusiak, H. NIEMIEC, M. SAPOR, F. H. Ruddell, B. M. Armstrong, H. S. Gamble, B. W. Loster, S. Majewski // IEEE Transactions on Nuclear Science ; ISSN 0018-9499. — 2010 vol. 57 no. 1, s. 381–386. — Bibliogr. s. 386, Abstr.. — tekst: http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=5410008

  • słowa kluczowe: position sensitive particle detectors

    keywords: biomedical X-ray imaging, silicon on insulator technology, position sensitive particle detectors , silicon radiation detectors

2
  • Development of monolithic active pixel sensor in SOI technology fabricated on the wafer with thick device layer / W. KUCEWICZ, B. M. Armstrong, H. S. Gamble, P. Grabiec, K. Kucharski, J. Marczewski, W. MAZIARZ, H. NIEMIEC, F. H. Ruddell, M. SAPOR, D. Tomaszewski // W: 2008 IEEE NSS/MIC/RTSD conference record [Dokument elektroniczny] : Nuclear Science Symposium (NSS) ; Medical Imaging Conference (MIC) ; 16th international workshop on Room-Temperature Semiconductor X- and Gamma-Ray Detectors (RTSD) : 19–25 October 2008 Dresden, Germany / guest ed. Paul Sellin ; Nuclear & Plasma Sciences Society, Institute of Electrical and Electronics Engineers. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [New York] : IEEE, 2008. — 1 dysk optyczny. — (IEEE conference record – Nuclear Science Symposium & Medical Imaging Conference ; ISSN 1082-3654). — e-ISBN: 978-1-4244-2715-4. — S. 1123–1125. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 1125, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

3
  • Fabrication and characterisation of high resistivity SOI substrates for monolithic high energy physics detectors / F. H. Rudell, [et al.], H. NIEMIEC, W. KUCEWICZ // Solid-State Electronics ; ISSN 0038-1101. — 2008 vol. 52 iss. 12, s. 1849–1853. — Bibliogr. s. 1853, Abstr.. — tekst: http://goo.gl/G3k4UF

  • keywords: silicon on insulator technology, silicon monolithic radiation detector

4
  • Monolithic active pixel dosimeter / Universitaet Karlsruhe, Karlsruhe ; Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie [et al.] ; wynalazca: Massimo Caccia [et al.], Halina NIEMIEC, Wojciech KUCEWICZ [et al.]. — Int.Cl.: G01T 1/02\textsuperscript{(2006.01)}. — Stany Zjednoczone. — Opis patentowy ; US 7582875 B2 ; Udziel. 2009-09-01 ; Opubl. 2009-09-01. — Zgłosz. nr US20050123708 z dn. 2005-05-05. — tekst: http://patenty.bg.agh.edu.pl/pelneteksty/US7582875B2.pdf

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

5
  • Monolithic active pixel dosimeter / Universitaet Karlsruhe ; Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie, [et al.] ; wynalazca: Massimo Caccia, [et al.], Halina NIEMIEC, Wojciech KUCEWICZ, [et al.]. — Int.Cl.: H05B 33/00\textsuperscript{(2006.01)}. — Stany Zjednoczone. — Opis zgłoszeniowy wynalazku ; US 20060043313 A1 ; Opubl. 2006-03-02. — Zgłosz. nr US200511123708 z dn. 2005-05-05. — tekst: http://patenty.bg.agh.edu.pl/pelneteksty/US20060043313A1.pdf

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

6
  • Monolithic active pixel dosimeter / [Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie ; et al.] ; wynalazca: de Boer Wim, NIEMIEC Halina, [et al.], KUCEWICZ Wojciech, Grigorive Eugene, Novario Raffaele. — Int.Cl.\textsuperscript{7}: H01L 027/146. — Australia. — Opis zgłoszeniowy wynalazku ; AU 2002354316 A8 ; Opubl. 2004-07-01. — Zgłosz. nr AU20022354316 z dn. 2002-11-05 // Australian Official Journal of Patents ; ISSN 0819-1794  2004 vol 18 no 25 suppl., s. 7031. — tekst: http://patenty.bg.agh.edu.pl/pelneteksty/AU2002354316A8.pdf

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

7
  • SOI monolithic active pixel detector technology for improvement of I-V characteristics and reliability / H. NIEMIEC, W. KUCEWICZ, M. SAPOR // Electronics and Telecommunications Quarterly / Polish Academy of Sciences. Committee of Electronics and Telecommunication ; ISSN 0867-6747. — 2008 vol. 54 no. 4, s. 507–512. — Bibliogr. 511–512

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

8
  • Technology of SOI monolithic active pixel detectors for improvement of I–V caracteristics and reliability / H. NIEMIEC, W. KUCEWICZ, M. SAPOR, P. Grabiec, K. Kucharski, J. Marczewski, D. Tomaszewski, B. M. Armstrong, M. Bain, P. Baine, H. S. Gamble, S. L. Suder, F. H. Ruddell // W: MIXDES 2008 : MIXed DESign of integrated circuits and systems : proceedings of the 15\textsuperscript{th} international conference : Poznań, Poland, 19–21 June, 2008 / ed. Andrzej Napieralski. — Łódź : Department of Microelectronics and Computer Science, Technical University of Łódź, cop. 2008 + CD-ROM. — ISBN10: 83-922632-7-8. — S. 463–465. — Bibliogr. s. 465, Abstr.. — W bazie Web of Science ISBN: 978-83-922632-7-2

  • keywords: monolithic active pixel sensors, silicon detectors, Silicon On Insulator (SOI) technology