Wykaz publikacji wybranego autora

Krystyna Płońska-Niżnik

specjalista

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kmm, Katedra Metaloznawstwa i Metalurgii Proszków


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: brak

PBN: 5e7094cb878c28a0473c3df5

System Informacyjny AGH (SkOs)





Liczba pozycji spełniających powyższe kryteria selekcji: 4, z ogólnej liczby 4 publikacji Autora


1
  • Microstructural changes during high temperature creep of CMSX-4 single crystal ${Ni}$-base superalloy / B. DUBIEL, K. PŁOŃSKA-NIŻNIK, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: EM'2008 : XIII international conference on Electron Microscopy : Zakopane, Poland, 8–11 June 2008 : abstracts. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, cop. 2008. — ISBN: 978-83-60958-15-5. — S. 53

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • Microstructure characterization of chromium carbides coatings deposited by thermal spraying processes / M. W. RICHERT, M. Książek, P. PAŁKA, S. Wawrzyniak, R. Grzelka, K. PŁOŃSKA-NIŻNIK // Journal of Achievements in Materials and Manufacturing Engineering ; ISSN 1734-8412. — 2012 vol. 55 iss. 1, s. 108–112. — Bibliogr. s. 112, Abstr.. — tekst: http://jamme.acmsse.h2.pl/papers_vol55_1/55113.pdf

  • keywords: microstructure, plasma sprayed and high velocity oxy-fuel processes, Cr3C2 carbides

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • Sample preparation methods – an overview / Grzegorz CEMPURA, K. PŁOŃSKA-NIŻNIK, A. GRUSZCZYŃSKI // W: esteem 2 : European network for electron microscopy : 4th Stanislaw Gorczyca European School on TEM basics and advanced sample preparation : Kraków, 1–4.10.2013 : proceedings / eds. G. Cempura, A. Czyrska-Filemonowicz. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe "Akapit", cop. 2013. — ISBN: 978-83-63663-36-0. — S. 273–286

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
  • Sample preparation methods (including FIB) - an overview / Grzegorz CEMPURA, Adam GRUSZCZYŃSKI, Krystyna PŁOŃSKA NIŻNIK // W: The 5\textsuperscript{th} Stanisław Gorczyca European school on Electron microscopy and electron tomography : Kraków, 5-8.07.2016 : proceedings / ed. by G. Cempura, A. Gruszczyński, A. Czyrska-Filemonowicz ; AGH University of Science and Technology, International Centre of Electron Microscopy for Materials Science, Faculty of Metals Engineering and Industrial Computer Science. — Kraków : AGH University of Science and Technology, 2016. — Opis częśc. wg okł.. — ISBN: 978-83-63663-81-0. — S. 363–375. — Bibliogr. s. 375. — Przedruk slajdów

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: