Wykaz publikacji wybranego autora

Beata Dubiel, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kmsż, Katedra Metalurgii Stopów Żelaza


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-4917-5437

ResearcherID: A-2796-2013

Scopus: 55999375600

PBN: 901295

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




Opisy publikacji wcześniejszych zobacz: bpp.agh.edu.pl/old.


Liczba pozycji spełniających powyższe kryteria selekcji: 133, z ogólnej liczby 136 publikacji Autora


1
  • 2\textsuperscript{nd} Stanisław Gorczyca Workshop on Electron microscopy: new TEM techniques : 1–4.10.2008, Kraków : proceedings / eds. Beata DUBIEL, Elżbieta STĘPNIOWSKA, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, 2008. — 311 s.. — ISBN: 978-83-60958-23-0. — Na s. tyt. dod.: ESTEEM – Enabling Science and Technology through European Electron Microscopy

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • 3D characterization and metrology of oxide nanoparticles in ODS alloy by electron tomography / A. KRUK, B. DUBIEL, W. OSUCH, G. CEMPURA, J. C. Hernandez, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: MC 2009 [Dokument elektroniczny] : Microscopy Conference in Graz, Austria : 30 August–4 September 2009 / eds. G. Kothleitner, [et al.]. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — Graz : Verlag der TU, cop. 2009. — 1 dysk optyczny. — Na dysku optycznym dod.: First joint meeting of Dreiländertagung & Multinational congress on Microscopy. — ISBN: 978-3-85125-062-6. — S. 101–102. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 102. — Toż W: MC 2009 : Microscopy Conference, Graz, Austria, 30 August– 4 September 2009 : first joint meeting of Dreiländertagung & Multinational congress on Microscopy. Vol. 1, Instrumentation and methodology / eds. Gerald Kothleitner, Manfred Leisch. — Graz : Verlag der Technischen Universität : Austrian Society of Electron Microscopy, cop. 2009

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • 3D imaging and metrology of yttria dispersoids in Incoloy MA956 by electron tomography / KRUK A., DUBIEL B., CZYRSKA-FILEMONOWICZ A. // W: EM 2011 : XIV\textsuperscript{th} international conference on Electron Microscopy : 26–30 June, 2011, Wisła, Poland : programme & abstracts. — [Polska : s. n.], 2011. — S. 67. — Bibliogr. s. 67

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
  • 3D imaging and metrology of yttria dispersoids in INCOLOY MA956 by electron tomography / Adam KRUK, Beata DUBIEL, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ // Diffusion and Defect Data – Solid State Data. Part B, Solid State Phenomena ; ISSN 1012-0394. — 2012 vol. 186, s. 37–40. — Bibliogr. s. 40, Abstr.. — Electron Microscopy XIV : selected peer reviewed papers from the XIV international conference on Electron Microscopy (EM 2011) : June 26–30, 2011, Wisla, Poland / ed. Danuta Stróż, Krystian Prusik. — Durnten-Zurich : Trans Tech Publications Ltd, cop. 2012. — ISBN-13 978-3-03785-381-8. — tekst: http://www.scientific.net/SSP.186.37

  • keywords: INCOLOY MA956, HAADF-STEM tomography, FIB/SEM tomography

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.4028/www.scientific.net/SSP.186.37

5
6
  • Analiza mikrostruktury nadstopu SCRY4 po pełzaniuMicrostructural analysis of creep deformed SCRY4 superalloy / Grzegorz Sosin, Beata DUBIEL, Grzegorz MICHTA // W: 85 lat KMiMP : konferencja naukowa zorganizowana z okazji 85-lecia Katedry Metaloznawstwa i Metalurgii Proszków : Kraków, maj 2007 / pod red. Grzegorza Michty. — Kraków : Akademia Górniczo-Hutnicza im. St. Staszica. Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej. KMiMP, 2007. — Opis częśc. wg okł.. — ISBN: 978-83-87331-81-8. — S. 160–163. — Streszcz.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

7
  • Analiza mikrostruktury stopu SCRY4 po pełzaniu[Microstructural analysis of creep deformed SCRY4 superalloy] / Grzegorz Sosin, Beata DUBIEL // W: II Ogólnopolska konferencja studenckich kół naukowych : koła naukowe kuźnią talentów : 20–22 IV 2007, [Warszawa] : materiały konferencyjne / red. Kamil Misztal. — Warszawa : Samorząd Studentów Politechniki Warszawskiej, cop. 2007. — Opis częśc. wg okł.. — ISBN: 978-83-60676-48-6. — S. 129. — Bibliogr. s. 129

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

8
  • Analiza wydzieleń faz $\gamma$' i $\gamma$” umacniających stop Inconel 718Analysis of strenghteting precipitates of $\gamma$' and $\gamma$” in Inconel 718 superalloy / Elżbieta Stępniowska, Beata DUBIEL, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: 85 lat KMiMP : konferencja naukowa zorganizowana z okazji 85-lecia Katedry Metaloznawstwa i Metalurgii Proszków : Kraków, maj 2007 / pod red. Grzegorza Michty. — Kraków : Akademia Górniczo-Hutnicza im. St. Staszica. Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej. KMiMP, 2007. — Opis częśc. wg okł.. — ISBN: 978-83-87331-81-8. — S. 164–167. — Bibliogr. s. 167, Streszcz.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

9
  • Analiza wydzieleń faz $\gamma$' i $\gamma$” w nadstopie niklu IN718 metodami wysokorozdzielczej mikroskopii elektronowej i holografii elektronowejAnalysis of $\gamma$' and $\gamma$” precipitates in nickel-base superalloy Inconel 718 using HRTEM and electron holography methods / E. STĘPNIOWSKA, B. DUBIEL, D. Geiger, P. Formanek, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: XXXVI Szkoła Inżynierii Materiałowej : Kraków–Krynica, 23–26 IX 2008 / pod red. Jerzego Pacyny ; Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie. Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej. — [Kraków : AGH. WIMiIP], [2008] + CD-ROM. — Na okł. tyt.: Prace Szkoły Inżynierii Materiałowej. — S. 61–65. — Bibliogr. s. 65, Streszcz., Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

10
  • Analysis of $\gamma$' and $\gamma$” precipitates in nickel-base superalloy inconel 718 using HRTEM and 3D visualisation methods : abstract / E. STĘPNIOWSKA, B. DUBIEL, D. Geiger, G. CEMPURA, J. C. Hernandez, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: 2\textsuperscript{nd} Stanisław Gorczyca Workshop on Electron microscopy: new TEM techniques : 1–4.10.2008, Kraków : proceedings / eds. Beata Dubiel, Elżbieta Stępniowska, Aleksandra Czyrska-Filemonowicz. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, 2008. — Na s. tyt. dod.: ESTEEM – Enabling Science and Technology through European Electron Microscopy. — ISBN: 978-83-60958-23-0. — S. 306–307

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

11
12
  • Analytical electron microscopy investigations of a microstructure of single and polycrystalline $\beta$-${Mg_{2}Al_{3}}$ Samson phase / A. ZIELIŃSKA-LIPIEC, B. DUBIEL, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: EMC 2008 : 14th European Microscopy Congress : 1–5 September 2008, Aachen, Germany. Vol. 2, Materials science / eds. Silvia Richter, Alexander Schwedt. — Berlin ; Heidelberg : Springer-Verlag, cop. 2008. — ISBN: 978-3-540-85225-4. — S. 517–518. — Bibliogr. s. 517

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

13
  • Analytical electron microscopy investigation of topologically close-packed phases in CMSX-4 single crystal superalloy / B. DUBIEL, I. KALEMBA-REC, P. Indyka, T. MOSKALEWICZ // W: XXIII CAC 2015 : Conference on Applied Crystallography : 20–24 September 2015, Krynica-Zdrój, Poland : programme & abstracts. — [Krynica-Zdrój : s. n.], [2015]. — S. 65–66. — Bibliogr. s. 66

  • keywords: CMSX-4, superalloy, TCP phases

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

14
15
  • Analytical electron microscopy studies of the CMSX-4 single crystal superalloy subjected to high temperature annealing / B. DUBIEL. P. Indyka, I. KALEMBA-REC, A. KRUK, T. Moskalewicz // W: Abstract book of 11\textsuperscript{th} Polish-Japanese joint seminar on Micro and nano analysis : 11–14 September 2016, Gniew, Poland / PAN, PTMi, Kyushu University. — [Poland : s. n.], [2016]. — S. 61. — Bibliogr. s. 61

  • keywords: electron tomography, EDS, CMSX-4, STEM

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

16
17
  • Analytical TEM and electron holography of ferromagnetic cobalt nanolayers : abstract / E. STĘPNIOWSKA, D. Wolf, B. DUBIEL, T. ŚLĘZAK, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: 2\textsuperscript{nd} Stanisław Gorczyca Workshop on Electron microscopy: new TEM techniques : 1–4.10.2008, Kraków : proceedings / eds. Beata Dubiel, Elżbieta Stępniowska, Aleksandra Czyrska-Filemonowicz. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, 2008. — Na s. tyt. dod.: ESTEEM – Enabling Science and Technology through European Electron Microscopy. — ISBN: 978-83-60958-23-0. — S. 308–309

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

18
  • Analytical TEM and electron holography of magnetic field distribution in nanocrystalline ${Co}$ layers deposited on ${Cu}$ / B. DUBIEL, D. Wolf, E. STĘPNIOWSKA, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: EMC 2008 : 14th European Microscopy Congress : 1–5 September 2008, Aachen, Germany. Vol. 1, Instrumentation and methods / eds. Martina Luysberg, Karsten Tillmann, Thomas Weirich. — Berlin ; Heidelberg : Springer-Verlag, cop. 2008. — ISBN: 978-3-540-85154-7. — S. 253–254. — Bibliogr. s. 254

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

19
20
  • Analytical TEM characterisation of platinum-aluminide coatings on a nickel-base superalloy CMSX-4 / B. DUBIEL, T. MOSKALEWICZ, L. Swadźba, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: EMAS 2009 : 11th European workshop on Modern developments and applications in microbeam analysis : 10 to 14 May 2009 Gdynia/Rumia, Gdańsk, Poland : book of tutorials and abstracts / European Microbeam Analysis Society. — [Poland : EMAS], [2009]. — S. 245

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

21
  • Application of ChemiSTEM EDX to elemental mapping of $\gamma'$ and $\gamma”$ nanoparticles in Inconel 718 superalloy / K. KULAWIK, P. A. BUFFAT, B. DUBIEL, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: emc2012 Manchester [Dokument elektroniczny] : proceedings of the 15th European Microscopy Congress : 16th–21st September 2012, Manchester, UK / RMS The Royal Microscopical Society, IFSM International Federation of Societies for Microscopy. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [UK : s. n.], [2012]. — 1 dysk optyczny. — S. [1–2]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD. — Bibliogr. s. [1–2]. — Tyt. przejeto z ekranu tytułowego. — Dod. afiliacja autora: P. A. Buffat'a: Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

22
23
  • Application of electron tomography to analysis of nanoparticles in structural alloys / Grzegorz CEMPURA, Adam KRUK, Beata DUBIEL, Juan C. Hernandes, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: E-MRS 2009 fall meeting : European Materials Research Society : Warsaw (Poland) : 14th – 18th September, 2009 : scientific programme and book of abstracts / Warsaw University of Technology. — [Polska : s. n.], [2009]. — S. 167

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

24
  • Badania wpływu polielektrolitu anionowego PAA na osadzanie elektroforetyczne powłok SiO2 i Ni/SiO2[Influence of anionic polyelectrolyte PAA on the electrophoretic deposition of SiO2 and Ni/SiO2 coatings] / Tomasz RATAJSKI, Izabela KALEMBA-REC, Beata DUBIEL // W: Nowoczesne technologie w inżynierii powierzchni : VI ogólnopolska konferencja naukowa : Łódź-Spała, 25–28 września 2016 / red. nauk. Tomasz Kapitaniak ; Politechnika Łódzka. Instytut Inżynierii Materiałowej. — Łódź : Wydawnictwo Politechniki Łódzkiej, cop. 2016. — ISBN: 978-83-7283-761-5. — S. 75. — Afiliacja autorów: Akademia Górniczo-Hutnicza

  • słowa kluczowe: SiO2, osadzanie elektroforetyczne, PAA, powłoki nanokompozytowe

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

25
  • Characterisation of $\gamma$' and $\gamma$” strengthening particles in Inconel 718 superalloy by Electron Microscopy and FIB Tomography / A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ, A. KRUK, B. DUBIEL, G. CEMPURA // W: IMC17 [Dokument elektroniczny] : International Microscopy Congress : Rio, Brazil, 19–24 September, 2010 : proceedings. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Brazil : Sociedade Brasileira de Microscopia et Microanálise], [cop. 2010]. — 1 dysk optyczny. — S. [1–2]. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. [1–2]

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: