Optoelektroniczna metoda analizy przemieszczeń obiektów — Optoelectronics methods for devices' sets analysis / Janusz SZPYTKO, Mateusz TEKIELAK, Piotr KOHUT // Pomiary, Automatyka, Kontrola / Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich. Sekcja Metrologii, Polskie Stowarzyszenie Pomiarów Automatyki i Robotyki POLSPAR ; ISSN 0032-4140. — 2003 R. 49 nr 11, s. 5–7. — Bibliogr. s. 7, Streszcz., Abstr.