Badanie efektu statystyki krystalitów w dyfrakcji promieniowania X : [streszczenie] — [Investigation of crystallites statistics effect in X-ray diffraction : abstract] / Piotr RAMZA, Andrzej ZIĘBA // W: 55 Konwersatorium Krystalograficzne : VI sesja naukowa i warsztaty PTK : Wrocław, 27–29 VI 2013 r. : program, streszczenia komunikatów, lista uczestników i autorów prac. — [Polska : s. n.], [2013]. — S. 283–284, B–82. — Bibliogr. s. 284. — Afiliacja autorów: Akademia Górniczo-Hutnicza

Metodologia badania efektu statystyki krystalitów w dyfrakcji promieniowania X — [Methodology of the investigation of the particle statistics effect in X-ray powder diffraction] / Piotr RAMZA, Andrzej ZIĘBA // W: 54 Konwersatorium Krystalograficzne : V sesja naukowa i warsztaty PTK : Wrocław, 5–7 VII 2012 r. : program, streszczenia komunikatów, lista uczestników i autorów prac / Komitet Krystalografii PAN, Polskie Towarzystwo Krystalograficzne, Instytut Niskich Temperatur i Badań Strukturalnych PAN. — Wrocław : INTiBS PAN, [2012]. — Opis częśc. wg okł.. — ISBN: 978-83-906218-8-3. — S. 150–151. — Bibliogr. s. 151. — Afiliacja: Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej, Akademia Górniczo-Hutnicza

Obserwacje samoskorelowane: niepewność rozszerzona — Autocorrelated observations: the expanded uncertainty / Piotr RAMZA, Andrzej ZIĘBA // W: PPM'11 : Podstawowe Problemy Metrologii : Krynica-Zdrój, 12–15 czerwca 2011 / Polska Akademia Nauk. Oddział w Katowicach. — Katowice : Komisja Metrologii Oddziału PAN, [2011]. — (Prace Komisji Metrologii Oddziału PAN w Katowicach. Seria: Konferencje ; nr 15). — ISBN: 978-83-930505-1-2. — S. 43–47. — Bibliogr. s. 47

Standard deviation of the mean of autocorrelated observations estimated with the use of the autocorrelation function estimated from the data / Andrzej ZIĘBA, Piotr RAMZA // Metrology and Measurement Systems : quarterly of Polish Academy of Sciences ; ISSN 2080-9050. — Tytuł poprz.: Metrologia i Systemy Pomiarowe ; ISSN: 0860-8229. — 2011 vol. 18 no. 4, s. 529–542. — Bibliogr. s. 542, Abstr.

The methodology of investigation the particle statistics effect in X-rays diffraction / Piotr RAMZA // W: Proceedings of the ISD workshops : [Szczyrk, from 9\textsuperscript{th} till 15\textsuperscript{th} June 2013] / eds. Marcin Perzanowski [et al.] ; AGH University of Science and Technology. Faculty of Physics and Applied Computer Science. — Kraków : FPACS AGH UST, 2013. — ISBN: 978-83-925779-3-5. — S. 41–43. — Bibliogr. s. 43