Wykaz publikacji wybranego autora

Krzysztof Kulawik, mgr inż.

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kmm, Katedra Metaloznawstwa i Metalurgii Proszków

Identyfikatory Autora	Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych
ORCID: brak ResearcherID: brak Scopus: brak	OPI Nauka Polska

Identyfikatory Autora

Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: brak

wydruk:

sortowanie:

1

Application of ChemiSTEM EDX to elemental mapping of $\gamma'$ and $\gamma”$ nanoparticles in Inconel 718 superalloy
Application of ChemiSTEM EDX to elemental mapping of $\gamma'$ and $\gamma”$ nanoparticles in Inconel 718 superalloy / K. KULAWIK, P. A. BUFFAT, B. DUBIEL, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: emc2012 Manchester [Dokument elektroniczny] : proceedings of the 15th European Microscopy Congress : 16th–21st September 2012, Manchester, UK / RMS The Royal Microscopical Society, IFSM International Federation of Societies for Microscopy. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [UK : s. n.], [2012]. — 1 dysk optyczny. — S. [1–2]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD. — Bibliogr. s. [1–2]. — Tyt. przejeto z ekranu tytułowego. — Dod. afiliacja autora: P. A. Buffat'a: Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne

2

Three-dimensional visualization and metrology of nanoparticles in Inconel 718 by electron tomography
Three-dimensional visualization and metrology of nanoparticles in Inconel 718 by electron tomography / Krzysztof KULAWIK, Adam KRUK, Beata DUBIEL, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ // Diffusion and Defect Data – Solid State Data. Part B, Solid State Phenomena ; ISSN 1012-0394. — 2012 vol. 186, s. 45–48. — Bibliogr. s. 48, Abstr.. — Electron Microscopy XIV : selected peer reviewed papers from the XIV international conference on Electron Microscopy (EM 2011) : June 26–30, 2011, Wisla, Poland / ed. Danuta Stróż, Krystian Prusik. — Durnten-Zurich : Trans Tech Publications Ltd, cop. 2012. — ISBN-13 978-3-03785-381-8. — tekst: http://www.scientific.net/SSP.186.45.pdf