Wykaz publikacji wybranego autora

Krystyna Schneider, dr inż.

adiunkt

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki

  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-4282-0050 połącz konto z ORCID

ResearcherID: H-7192-2012

Scopus: 56305636900

PBN: 5e70922c878c28a0473911db

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1
  • [referat, 2018]
  • Tytuł$Cu_2O/CuO$ thin film p-p nano-heterostructures for gas sensing
    AutorzyK. ZAKRZEWSKA, W. MAZIARZ, K. SCHNEIDER, M. Mazur, D. Wojcieszak, D. Kaczmarek
    ŹródłoIMCS 2018 [Dokument elektroniczny] : the 17textsuperscript{th} International Meeting on Chemical Sensors : July 15–19, 2018, Vienna, Austria : proceedings / Universität Wien. — Wunstorf : AMA Service GmbH, 2018. — S. 789–790
2
  • [referat, 2018]
  • TytułElectrical properties and defect structure of vanadium pentoxide polycrystalline
    AutorzyKrystyna SCHNEIDER, Kamila Kluczewska, Małgorzata DZIUBANIUK, Jan WYRWA
    ŹródłoEYEC monograph : 7textsuperscript{th} European Young Engineers Conference : April 23–25textsuperscript{th} 2018, Warsaw / ed. by Bartosz Nowak, [et al.]. — [Warszawa] : Warsaw University of Technology. Faculty of Chemical and Process Engineering, cop. 2018. — S. 227–240
3
  • [fragment książki, 2018]
  • TytułHigh temperature creep of metal oxides
    AutorzyKrystyna SCHNEIDER, Mieczysław RĘKAS
    ŹródłoCreep / ed. Tomasz Tański. — London : IntechOpen, [2018]. — S. 49–69
4
  • [referat, 2018]
  • TytułImpedance spectroscopy of vanadium pentoxide : [abstract]
    AutorzyKamila Kluczewska, Krystyna SCHNEIDER, Małgorzata DZIUBANIUK, Jan WYRWA
    ŹródłoEYEC monograph : 7textsuperscript{th} European Young Engineers Conference : April 23–25textsuperscript{th} 2018, Warsaw / ed. by Bartosz Nowak, [et al.]. — [Warszawa] : Warsaw University of Technology. Faculty of Chemical and Process Engineering, cop. 2018. — S. 512
5
  • [referat, 2018]
  • TytułPoint defect structure and gas sensing properties of $V_{2}O_{5}$ thin films deposited by rf reactive sputtering
    AutorzyKrystyna SCHNEIDER
    ŹródłoCOE 2018 [Dokument elektroniczny] : 15textsuperscript{th} international scientific conference on Optoelectronic and Electronic Sensors : 17–20 June 2018, Warsaw / Warsaw University of Technology. — [Piscataway : IEEE], [2018]. — S. [1–4]
6
7
  • [referat w czasopiśmie, 2018]
  • Tytuł$V_2O_5$ thin films as nitrogen dioxide sensors
    AutorzyKrystyna SCHNEIDER, Wojciech MAZIARZ
    ŹródłoProceedings (MDPI) [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne. — 2018 vol. 2 art. no. 759, s. 1–5. — tekst: https://www.mdpi.com/2504-3900/2/13/759/pdf
8
  • [referat w czasopiśmie, 2018]
  • Tytuł$V_2O_5$ thin films as nitrogen dioxide sensors
    AutorzyKrystyna SCHNEIDER, Wojciech MAZIARZ
    ŹródłoSensors [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne. — 2018 vol. 18 iss. 12 art. no. 4177, s. 1–11. — tekst: https://www.mdpi.com/1424-8220/18/12/4177/pdf