Wykaz publikacji wybranego autora

Krystyna Schneider, dr inż.

adiunkt

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki

  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-4282-0050 połącz konto z ORCID

ResearcherID: H-7192-2012

Scopus: 56305636900

PBN: 5e70922c878c28a0473911db

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1
  • [fragment książki, 2021]
  • TytułDefect chemistry in binary and ternary metal oxides
    AutorzyKrystyna SCHNEIDER, Mieczysław RĘKAS
    ŹródłoSwitching effects : in transition metal oxides / ed. by Krystian Roleder, Krzysztof S. Szot, Franciszek Krok. — Warszawa : Wydawnictwo Naukowe PWN, 2021. — S. 51–91

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Mieczysław Rękas

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
3
  • [referat, 2016]
  • TytułDefect structure of V2O5 thin film gas sensors
    AutorzyKrystyna SCHNEIDER
    Źródło14th international Conference on Optical and Electronic sensors (COE 2016) : 19–22 June 2016, Gdansk, Poland / ed. Piotr Jasiński. — Washington : Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers, cop. 2016. — S. 1016109-1–1016109-9

  • keywords: thin film, electrical conductivity, defect structure, vanadium pentoxide, impendance spectroscopy

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1117/12.2244583

4
  • [referat, 2017]
  • TytułElectrical and gas sensing properties of vanadium pentoxide thin films deposited by rf reactive sputtering
    AutorzyK. SCHNEIDER
    ŹródłoSEIA'17 [Dokument elektroniczny] : Sensor and Electronic Instrumentation Advances : proceedings of the 3textsuperscript{rd} international conference on Sensors and Electronic Instrumentation Advances : 20–22 September 2017, Moscow, Russia / ed. by Sergey Y. Yurish. — [S. l.] : International Frequency Sensor Association (IFSA) Publishing, S. L., cop. 2017. — S. 151–153

  • keywords: thin films, impedance spectroscopy, conductivity, gas sensor, defect structure, reactive sputtering, vanadium pentoxide, flammable gases sensing

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5
  • [referat, 2018]
  • TytułElectrical properties and defect structure of vanadium pentoxide polycrystalline
    AutorzyKrystyna SCHNEIDER, Kamila Kluczewska, Małgorzata DZIUBANIUK, Jan WYRWA
    ŹródłoEYEC monograph : 7textsuperscript{th} European Young Engineers Conference : April 23–25textsuperscript{th} 2018, Warsaw / ed. by Bartosz Nowak, [et al.]. — [Warszawa] : Warsaw University of Technology. Faculty of Chemical and Process Engineering, cop. 2018. — S. 227–240

  • keywords: electrochemical impedance spectroscopy, electrical conductivity, defect structure, vanadium pentoxide, metal insulator transition

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Jan Wyrwa, Małgorzata Dziubaniuk

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

6
7
  • [fragment książki, 2018]
  • TytułHigh temperature creep of metal oxides
    AutorzyKrystyna SCHNEIDER, Mieczysław RĘKAS
    ŹródłoCreep / ed. Tomasz Tański. — London : IntechOpen, [2018]. — S. 49–69

  • keywords: diffusion, non stoichiometry, defect structure, high temperature creep of metal oxides

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Mieczysław Rękas

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.5772/intechopen.70876

8
9
10
11
  • [artykuł w czasopiśmie, 2010]
  • TytułNowe nanomateriały magnetyczne do zastosowań w MRI
    AutorzyKrystyna SCHNEIDER, Janusz PRZEWOŹNIK, Jan ŻUKROWSKI, Marcin SIKORA, Czesław KAPUSTA, Dariusz Zając, Mieczysław RĘKAS, Adam Świerczyna, Andrzej Urbanik
    ŹródłoPolish Journal of Radiology. — 2010 vol. 75, s. 1–4

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Czesław Kapusta, Janusz Przewoźnik, Mieczysław Rękas, Marcin Sikora, Jan Żukrowski

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

12
13
14
  • [artykuł w czasopiśmie, 2013]
  • TytułSelf-cleaning layers of $TiO_{2}$ on the brick surfaces
    AutorzyStanisław KOMORNICKI, Mieczysław RĘKAS, Krystyna SCHNEIDER, Jan WYRWA
    ŹródłoMateriały Ceramiczne / Polskie Towarzystwo Ceramiczne, Kraków. — 2013 t. 65 nr 2, s. 130–134. — tekst: http://ptcer.pl/pobierz/850

  • słowa kluczowe: cegła ceramiczna, TiO2, fotokataliza, warstwa samoczyszcząca

    keywords: TiO2, ceramic brick, photocatalysis, self cleaning layer

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Stanisław Komornicki, Mieczysław Rękas, Jan Wyrwa

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

15
  • [artykuł w czasopiśmie, 2015]
  • TytułStructural and optical properties of $VO_{x}$ thin films
    AutorzyK. SCHNEIDER
    ŹródłoArchives of Metallurgy and Materials / Polish Academy of Sciences. Committee of Metallurgy. Institute of Metallurgy and Materials Science. — 2015 vol. 60 iss. 2A, s. 957–961

  • keywords: microstructure, thin films, optical properties, VOx, reactive sputtering, energy band gap

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1515/amm-2015-0238

16
17
  • [referat w czasopiśmie, 2018]
  • Tytuł$V_2O_5$ thin films as nitrogen dioxide sensors
    AutorzyKrystyna SCHNEIDER, Wojciech MAZIARZ
    ŹródłoProceedings (MDPI) [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne. — 2018 vol. 2 art. no. 759, s. 1–5. — tekst: https://www.mdpi.com/2504-3900/2/13/759/pdf

  • keywords: thin film, electrical properties, gas sensor, vanadium pentoxide, nitrogen dioxide, rf reactive sputtering

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Wojciech Maziarz

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.3390/proceedings2130759

18
  • [referat w czasopiśmie, 2018]
  • Tytuł$V_2O_5$ thin films as nitrogen dioxide sensors
    AutorzyKrystyna SCHNEIDER, Wojciech MAZIARZ
    ŹródłoSensors [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne. — 2018 vol. 18 iss. 12 art. no. 4177, s. 1–11. — tekst: https://www.mdpi.com/1424-8220/18/12/4177/pdf

  • keywords: thin film, electrical properties, gas sensor, reactive sputtering, vanadium pentoxide, nitrogen dioxide, metal insulator transition

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Wojciech Maziarz

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.3390/s18124177

19
20
  • [fragment książki, 2013]
  • Tytuł$VO_{x}$ thin films deposited by reactive RF sputtering
    AutorzyK. SCHNEIDER, K. DROGOWSKA, A. G. Balogh, Z. TARNAWSKI, N.-T. H. Kim-Ngan, K. ZAKRZEWSKA
    ŹródłoReaktywność ciał stałych / pod red. K. Przybylskiego; Polska Akademia Nauk – Oddział w Krakowie, Polskie Towarzystwo Ceramiczne. — Kraków : Polskie Towarzystwo Ceramiczne, 2013. — S. 305–314

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Katarzyna Zakrzewska, Zbigniew Tarnawski, Karolina Drogowska

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

21
22
23
24
25