Wykaz publikacji wybranego autora

Krystyna Schneider, dr inż.

adiunkt

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki

  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-4282-0050 połącz konto z ORCID

ResearcherID: H-7192-2012

Scopus: 56305636900

PBN: 5e70922c878c28a0473911db

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1
  • [referat, 2018]
  • Tytuł$Cu_2O/CuO$ thin film p-p nano-heterostructures for gas sensing
    AutorzyK. ZAKRZEWSKA, W. MAZIARZ, K. SCHNEIDER, M. Mazur, D. Wojcieszak, D. Kaczmarek
    ŹródłoIMCS 2018 [Dokument elektroniczny] : the 17textsuperscript{th} International Meeting on Chemical Sensors : July 15–19, 2018, Vienna, Austria : proceedings / Universität Wien. — Wunstorf : AMA Service GmbH, 2018. — S. 789–790

  • keywords: thin films, nano materials, CuO, gas sensors, heterostructures, Cu2O

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Wojciech Maziarz, Katarzyna Zakrzewska

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.5162/IMCS2018/P2GS.11

2
3
  • [referat, 2016]
  • TytułDefect structure of V2O5 thin film gas sensors
    AutorzyKrystyna SCHNEIDER
    Źródło14th international Conference on Optical and Electronic sensors (COE 2016) : 19–22 June 2016, Gdansk, Poland / ed. Piotr Jasiński. — Washington : Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers, cop. 2016. — S. 1016109-1–1016109-9

  • keywords: thin film, electrical conductivity, defect structure, vanadium pentoxide, impendance spectroscopy

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1117/12.2244583

4
  • [referat, 2017]
  • TytułElectrical and gas sensing properties of vanadium pentoxide thin films deposited by rf reactive sputtering
    AutorzyK. SCHNEIDER
    ŹródłoSEIA'17 [Dokument elektroniczny] : Sensor and Electronic Instrumentation Advances : proceedings of the 3textsuperscript{rd} international conference on Sensors and Electronic Instrumentation Advances : 20–22 September 2017, Moscow, Russia / ed. by Sergey Y. Yurish. — [S. l.] : International Frequency Sensor Association (IFSA) Publishing, S. L., cop. 2017. — S. 151–153

  • keywords: thin films, impedance spectroscopy, conductivity, gas sensor, defect structure, reactive sputtering, vanadium pentoxide, flammable gases sensing

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5
6
  • [fragment książki, 2018]
  • TytułHigh temperature creep of metal oxides
    AutorzyKrystyna SCHNEIDER, Mieczysław RĘKAS
    ŹródłoCreep / ed. Tomasz Tański. — London : IntechOpen, [2018]. — S. 49–69

  • keywords: diffusion, non stoichiometry, defect structure, high temperature creep of metal oxides

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Mieczysław Rękas

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.5772/intechopen.70876

7
8
9
10
11
  • [referat, 2018]
  • TytułPoint defect structure and gas sensing properties of $V_{2}O_{5}$ thin films deposited by rf reactive sputtering
    AutorzyKrystyna SCHNEIDER
    ŹródłoCOE 2018 [Dokument elektroniczny] : 15textsuperscript{th} international scientific conference on Optoelectronic and Electronic Sensors : 17–20 June 2018, Warsaw / Warsaw University of Technology. — [Piscataway : IEEE], [2018]. — S. [1–4]

  • keywords: thin films, impedance spectroscopy, gas sensor, defect structure, reactive sputtering, vanadium pentoxide

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/COE.2018.8435182

12
13
14
  • [referat w czasopiśmie, 2018]
  • Tytuł$V_2O_5$ thin films as nitrogen dioxide sensors
    AutorzyKrystyna SCHNEIDER, Wojciech MAZIARZ
    ŹródłoProceedings (MDPI) [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne. — 2018 vol. 2 art. no. 759, s. 1–5. — tekst: https://www.mdpi.com/2504-3900/2/13/759/pdf

  • keywords: thin film, electrical properties, gas sensor, vanadium pentoxide, nitrogen dioxide, rf reactive sputtering

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Wojciech Maziarz

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.3390/proceedings2130759

15
  • [referat w czasopiśmie, 2018]
  • Tytuł$V_2O_5$ thin films as nitrogen dioxide sensors
    AutorzyKrystyna SCHNEIDER, Wojciech MAZIARZ
    ŹródłoSensors [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne. — 2018 vol. 18 iss. 12 art. no. 4177, s. 1–11. — tekst: https://www.mdpi.com/1424-8220/18/12/4177/pdf

  • keywords: thin film, electrical properties, gas sensor, reactive sputtering, vanadium pentoxide, nitrogen dioxide, metal insulator transition

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Wojciech Maziarz

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.3390/s18124177

16
17
18
19
20
  • [inne, 2007]
  • TytułXAFS study of ${TiO_{2}}$-based photoelectrode materials
    AutorzyK. SCHNEIDER, M. SIKORA, A. M. PADOŁ, Cz. KAPUSTA, K. MICHAŁÓW, Th. Graule, A. Vital, M. RADECKA, M. RĘKAS, D. A. Zajac
    ŹródłoJahresbericht 2007 [Dokument elektroniczny] : annual report, Pt. 1 / Hamburger Synchrotronstrahlungslabor HASYLAB am Deutschen Elektronen-Synchrotron DESY in der Helmholtz-Gemeinschaft HGF. — Hamburg : Hamburger Synchrotronstrahlungslabor HASYLAB am Deutschen Elektronen-Synchrotron DESY, 2007. — Ekran [1–2]

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

21
22
23