Wykaz publikacji wybranego autora

Krystyna Schneider, dr inż.

adiunkt

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki

  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-4282-0050 połącz konto z ORCID

ResearcherID: H-7192-2012

Scopus: 56305636900

PBN: 5e70922c878c28a0473911db

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1
  • [referat, 2018]
  • Tytuł$Cu_2O/CuO$ thin film p-p nano-heterostructures for gas sensing
    AutorzyK. ZAKRZEWSKA, W. MAZIARZ, K. SCHNEIDER, M. Mazur, D. Wojcieszak, D. Kaczmarek
    ŹródłoIMCS 2018 [Dokument elektroniczny] : the 17textsuperscript{th} International Meeting on Chemical Sensors : July 15–19, 2018, Vienna, Austria : proceedings / Universität Wien. — Wunstorf : AMA Service GmbH, 2018. — S. 789–790
2
3
  • [referat, 2016]
  • TytułDefect structure of V2O5 thin film gas sensors
    AutorzyKrystyna SCHNEIDER
    Źródło14th international Conference on Optical and Electronic sensors (COE 2016) : 19–22 June 2016, Gdansk, Poland / ed. Piotr Jasiński. — Washington : Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers, cop. 2016. — S. 1016109-1–1016109-9
4
  • [referat, 2017]
  • TytułElectrical and gas sensing properties of vanadium pentoxide thin films deposited by rf reactive sputtering
    AutorzyK. SCHNEIDER
    ŹródłoSEIA'17 [Dokument elektroniczny] : Sensor and Electronic Instrumentation Advances : proceedings of the 3textsuperscript{rd} international conference on Sensors and Electronic Instrumentation Advances : 20–22 September 2017, Moscow, Russia / ed. by Sergey Y. Yurish. — [S. l.] : International Frequency Sensor Association (IFSA) Publishing, S. L., cop. 2017. — S. 151–153
5
  • [artykuł w czasopiśmie, 2017]
  • TytułElectrical properties of silica-doped 3 mol% yttria-stabilized tetragonal zirconia
    AutorzyEwa DROŻDŻ, Jan WYRWA, Krystyna SCHNEIDER, Mieczysław RĘKAS
    ŹródłoJournal of Materials Science. — 2017 vol. 52 iss. 2, s. 674–685. — tekst: https://link.springer.com/content/pdf/10.1007/s10853-016-0361-2.pdf
6
  • [fragment książki, 2018]
  • TytułHigh temperature creep of metal oxides
    AutorzyKrystyna SCHNEIDER, Mieczysław RĘKAS
    ŹródłoCreep / ed. Tomasz Tański. — London : IntechOpen, [2018]. — S. 49–69
7
8
  • [artykuł w czasopiśmie, 2014]
  • TytułLattice and grain-boundary diffusion of Al in tetragonal yttria-stabilized zirconia polycrystalline ceramics (3Y-TZP) analyzed using SIMS
    AutorzyKazimierz KOWALSKI, Katarzyna OBAL, Zbigniew PĘDZICH, Krystyna SCHNEIDER, Mieczysław RĘKAS
    ŹródłoJournal of the American Ceramic Society. — 2014 vol. 97 iss. 10, s. 3122–3127. — tekst: http://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1111/jace.13126/pdf
9
10
  • [artykuł w czasopiśmie, 2020]
  • TytułOptical properties and electronic structure of $V_{2}O_{5}$, $V_{2}O_{3}$ and $VO_{2}$
    AutorzyKrystyna SCHNEIDER
    ŹródłoJournal of Materials Science : Materials in Electronics. — 2020 vol. 31 iss. 13, s. 10478–10488. — tekst: https://link.springer.com/article/10.1007/s10854-020-03596-0
11
  • [referat, 2018]
  • TytułPoint defect structure and gas sensing properties of $V_{2}O_{5}$ thin films deposited by rf reactive sputtering
    AutorzyKrystyna SCHNEIDER
    ŹródłoCOE 2018 [Dokument elektroniczny] : 15textsuperscript{th} international scientific conference on Optoelectronic and Electronic Sensors : 17–20 June 2018, Warsaw / Warsaw University of Technology. — [Piscataway : IEEE], [2018]. — S. [1–4]
12
13
14
  • [referat w czasopiśmie, 2018]
  • Tytuł$V_2O_5$ thin films as nitrogen dioxide sensors
    AutorzyKrystyna SCHNEIDER, Wojciech MAZIARZ
    ŹródłoProceedings (MDPI) [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne. — 2018 vol. 2 art. no. 759, s. 1–5. — tekst: https://www.mdpi.com/2504-3900/2/13/759/pdf
15
  • [referat w czasopiśmie, 2018]
  • Tytuł$V_2O_5$ thin films as nitrogen dioxide sensors
    AutorzyKrystyna SCHNEIDER, Wojciech MAZIARZ
    ŹródłoSensors [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne. — 2018 vol. 18 iss. 12 art. no. 4177, s. 1–11. — tekst: https://www.mdpi.com/1424-8220/18/12/4177/pdf
16
  • [artykuł w czasopiśmie, 2016]
  • Tytuł$V_{2}O_{5}$ thin films for gas sensor applications
    AutorzyKrystyna SCHNEIDER, Maria LUBECKA, Adam CZAPLA
    ŹródłoSensors and Actuators. B, Chemical. — 2016 vol. 236, s. 970–977. — tekst: http://goo.gl/x8SPzk
17
18
19
  • [abstrakt w czasopiśmie, 2007]
  • TytułXAFS study of $TiO_{2}$-based photoelectrode materials
    AutorzyK. SCHNEIDER, M. SIKORA, Cz. KAPUSTA, K. MICHAŁÓW, Th. Graule, A. Vital, M. RADECKA, M. RĘKAS, D. Zajac
    ŹródłoSynchrotron Radiation in Natural Science : Bulletin of the Polish Synchrotron Radiation Society. — 2007 vol. 6 no. 1–2, s. 71. — tekst: http://www.synchrotron.org.pl/publ/biulet/all_in_one/Bull_PTPS_vol_06.pdf
20
  • [inne, 2007]
  • TytułXAFS study of ${TiO_{2}}$-based photoelectrode materials
    AutorzyK. SCHNEIDER, M. SIKORA, A. M. PADOŁ, Cz. KAPUSTA, K. MICHAŁÓW, Th. Graule, A. Vital, M. RADECKA, M. RĘKAS, D. A. Zajac
    ŹródłoJahresbericht 2007 [Dokument elektroniczny] : annual report, Pt. 1 / Hamburger Synchrotronstrahlungslabor HASYLAB am Deutschen Elektronen-Synchrotron DESY in der Helmholtz-Gemeinschaft HGF. — Hamburg : Hamburger Synchrotronstrahlungslabor HASYLAB am Deutschen Elektronen-Synchrotron DESY, 2007. — Ekran [1–2]
21
  • [abstrakt w czasopiśmie, 2009]
  • TytułXAFS study of $ZrO_{2}$-based SOFC materials
    AutorzyJ. STĘPIEŃ, J. Śliwińska, J. PRZEWOŹNIK, K. SCHNEIDER, Cz. KAPUSTA, D. Zając, K. MICHAŁÓW, D. POMYKALSKA, M. BUĆKO, M. RĘKAS
    ŹródłoSynchrotron Radiation in Natural Science : Bulletin of the Polish Synchrotron Radiation Society. — 2009 vol. 8 no. 1–2, s. 64. — tekst: http://www.synchrotron.org.pl/publ/biulet/all_in_one/Bull_PTPS_vol_08.pdf
22
23