Wykaz publikacji wybranego autora

Piotr Maj, prof. dr hab. inż.

profesor zwyczajny

Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej
WEAIiIB-kmie, Katedra Metrologii i Elektroniki

  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-1059-6376 orcid iD

ResearcherID: H-1069-2014

Scopus: 56046667100

PBN: 5e70922c878c28a04739118c

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1
  • [artykuł w czasopiśmie, 2012]
  • TytułAkcelerometryczny system badania i analizy chodu
    AutorzyPiotr MAJ, Katarzyna BARCZEWSKA, Aleksandra Drozd, Jakub KOWALSKI
    ŹródłoPomiary, Automatyka, Kontrola / Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich. Sekcja Metrologii, Polskie Stowarzyszenie Pomiarów Automatyki i Robotyki POLSPAR. — 2012 vol. 58 nr 4, s. 327–330. — tekst: http://yadda.icm.edu.pl/baztech/element/bwmeta1.element.baztech-article-BSW4-0119-0006/c/Maj.pdf
2
  • [referat w czasopiśmie, 2012]
  • TytułAlgorithms for minimization of charge sharing effects in a hybrid pixel detector taking into account hardware limitations in deep submicron technology
    AutorzyP. MAJ, A. Baumbaugh, G. DEPTUCH, P. GRYBOŚ, R. SZCZYGIEŁ
    ŹródłoJournal of Instrumentation [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne. — 2012 vol. 7 art. no. C12020, ekran [1], 1–7
3
4
  • [referat, 2012]
  • TytułMinimization of charge sharing effect in silicon hybrid pixel X-ray detectors based on pattern recognition algorithm
    AutorzyP. MAJ, A. Baumbaugh, G. Deptuch, P. GRYBOŚ, R. SZCZYGIEŁ
    ŹródłoICIT 2012 [Dokument elektroniczny] : IEEE International Conference on Industrial Technology : March 19–21, 2012, Athens, Greece : proceedings. — [Piscataway] : IEEE, cop. 2012. — S. 562–566