Application of silicon strip detector for X-ray diffraction on metallic multilayer systems / P. MIETNIOWSKI, J. KANAK, W. POWROŹNIK, T. STOBIECKI, P. MAJ, P. GRYBOŚ // W: SOTAMA 2007 : 2\textsuperscript{nd} symposium on Texture and microstructure analysis : Kraków, 26–28 September, 2007 : book of abstracts ; lectures and posters. — [Kraków : s. n.], [2007]. — S. 18–19

Comparison of two pole-zero cancellation circuits for fast charge sensitive amplifier in CMOS technology / P. GRYBOŚ, P. MAJ, R. SZCZYGIEŁ // W: MIXDES 2007 : MIXed DESign of integrated circuits and systems : proceedings of the 14\textsuperscript{th} international conference : Ciechocinek, Poland, 21–23 June, 2007 / ed. Andrzej Napieralski. — [Łódź : Technical University of Łódź. Department of Microelectronics and Computer Science], cop. 2007. — ISBN: 978-83-922632-4-1. — S. 243–246. — Bibliogr. s. 246, Abstr.

Development of a 512-channel module for digital X-ray imaging systems with silicon strip detectors : [poster] / L. Ramello, F. Prino, P. GRYBOŚ, P. MAJ, K. ŚWIENTEK, R. SZCZYGIEŁ, L. Bolaños, A. E. Cabal, , F. Albertin, M. Gambaccini, F. Petrucci // W: X\textsuperscript{th} EFOMP congress – Pisa 2007 [Dokument elektroniczny] : first European conference on Medical Physics : Castelvecchio Pascoli (LU), Italy, 20–22 September, 2007 / Aifm Associazione Italiana di Fisica Medica [etc.]. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Italy : Aifm], [2007]. — 1 dysk optyczny. — S. [1]. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. [1]. — Tyt. przejęto z ekranu tytułowego

Przykłady wykorzystania pozycjo-czułego krzemowego detektora paskowego do badań dyfrakcyjnych układów wielowarstwowych — [Examples of application position-sensitive silicon strip detector for diffraction on multilayers] / Piotr MIETNIOWSKI, Wiesław POWROŹNIK, Jarosław KANAK, Piotr MAJ, Paweł GRYBOŚ, Tomasz STOBIECKI // W: I Krajowa konferencja nanotechnologii : 26–28 kwietnia 2007 Wrocław : książka streszczeń / Politechnika Wrocławska. — [Wrocław : PWr], [2007]. — Opis częśc. wg okł.. — S. 102

Testy systemu do obrazowania cyfrowego umożliwiającego pracę z promieniowaniem X o dużym natężeniu i selekcję energetyczną fotonów — Tests of system for digital imaging with the X-ray of high intensity and selection of photon energy / Paweł GRYBOŚ, Piotr MAJ, Robert SZCZYGIEŁ, Krzysztof ŚWIENTEK, Luciano Ramello, Ana Ester Cabal Rodriguez // Pomiary, Automatyka, Kontrola / Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich. Sekcja Metrologii, Polskie Stowarzyszenie Pomiarów Automatyki i Robotyki POLSPAR ; ISSN 0032-4140. — 2007 vol. 53 nr 9bis, s. 150–152. — Bibliogr. s. 152, Streszcz., Abstr.. — Kongres Metrologii „Metrologia – narzędzie poznania i droga rozwoju” : Kraków 9–13 września 2007, T. 1 / SIiTMP SM, PSPAiR POLSPAR. — Warszawa : Agenda Wydawnicza SIMP, 2007 + CD-ROM. — Na okł. dodatkowo: 50 Lat Katedry Metrologii AGH, 55 Lat Wydziału Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki

The CBM Experiment at FAIR / Volker Friese, [et al.], M. BASZCZYK, [et al.], J. GAJDA, [et al.], P. GRYBOŚ, [et al.], K. KASIŃSKI, [et al.], R. KŁECZEK, [et al.], W. KUCEWICZ, [et al.], P. MAJ, [et al.], P. OTFINOWSKI, [et al.], R. SZCZYGIEŁ, [et al.], M. ŻOŁĄDŹ, [et al.] // PoS Proceedings of Science [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1824-8039. — 2007 vol. 047 art. no. 056, s. 1-11. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 11. — Publikacja dostępna online od: 2008-03-28. — CPOD07 : 4th international workshop on Critical Point and Onset of Deconfinement : Darmstadt, Germany, 9–13 July, 2007. — tekst: http://pos.sissa.it/archive/conferences/047/056/CPOD07_056.pdf

Zastosowanie urządzeń wirtualnych do testowania i aplikacji z wykorzystaniem specjalizowanych układów scalonych — The use of virtual instruments for testing and application with application specific integrated circuits / Piotr MAJ // Pomiary, Automatyka, Kontrola / Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich. Sekcja Metrologii, Polskie Stowarzyszenie Pomiarów Automatyki i Robotyki POLSPAR ; ISSN 0032-4140. — 2007 vol. 53 nr 9bis, s. 717–720. — Bibliogr. s. 720, Streszcz., Abstr.. — Na okł. dodatkowo: 50 Lat Katedry Metrologii AGH, 55 Lat Wydziału Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. — Kongres Metrologii „Metrologia – narzędzie poznania i droga rozwoju” : Kraków 9–13 września 2007, T. 2 / SIiTMP SM, PSPAiR POLSPAR. — Warszawa : Agenda Wydawnicza SIMP, 2007 + CD-ROM