Wykaz publikacji wybranego autora

Marcin Jastrząb, mgr inż.

asystent

* Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki
WEAIiE-ke, * Katedra Elektroniki


Identyfikatory Autora

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: brak




1
  • [referat w czasopiśmie, 2006]
  • TytułFull-size monolithic active pixel sensors in SOI technology – design considerations, simulations and measurements results
    AutorzyH. NIEMIEC, M. JASTRZĄB, W. KUCEWICZ, K. Kucharski, J. Marczewski, M. SAPOR, D. Tomaszewski
    ŹródłoNuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment. — 2006 vol. 568, s. 153–158
  • keywords: monolithic active pixel sensors, silicon detectors, silicon on insulator technology

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.nima.2006.05.224

2
  • [referat w czasopiśmie, 2006]
  • TytułPrototypes of large-scale SOI monolithic active pixel sensors
    AutorzyM. JASTRZĄB, M. KOZIEŁ, W. KUCEWICZ, K. Kucharski, J. Marczewski, H. NIEMIEC, M. SAPOR, D. Tomaszewski
    ŹródłoNuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment. — 2006 vol. 560 iss. 1, s. 31–35. — tekst: https://goo.gl/ZdQ53M
  • keywords: monolithic active pixel sensors, silicon detectors, SOI technology

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.nima.2005.11.195

3
4
  • [referat w czasopiśmie, 2006]
  • TytułThe SUCIMA project : a status report on high granularity dosimetry and proton beam monitoring
    AutorzyM. Caccia [et al.], G. Deptuch [et al.], M. JASTRZĄB, L. Jungermann, T. Klatka, A. Kociubinski, M. KOZIEŁ, W. KUCEWICZ, K. Kucharski, S. KUTA, J. Marczewski, A. Mozzanica, H. NIEMIEC, R. Novario [et al.], M. SAPOR, H. Schweickert, B. Sowicki, M. SZELEŹNIAK, D. Tomaszewski, A. Zalewska
    ŹródłoNuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment. — 2006 vol. 560 iss. 1, s. 153–157. — tekst: https://goo.gl/84AuYr
  • keywords: pixel, beam monitoring, microstrip, dosimetry, beam profilometry

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.nima.2005.11.219