Wykaz publikacji wybranego autora

Radosław Chmielowski, mgr inż.

doktorant

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kip, Katedra Inżynierii Powierzchni i Analiz Materiałów

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: brak

OPI Nauka Polska

1
  • [referat, 2008]
  • TytułMicrostructure of ${Sr_{4}Ru_{2}O_{9}}$ thin films and ${Bi_{3.25}La_{0.75}Ti_{3}O_{12}/Sr_{4}Ru_{2}O_{9}}$ bilayers
    AutorzyR. CHMIELOWSKI, V. Madigou, M. BLICHARSKI, Ch. Leroux
    ŹródłoEMC 2008 : 14th European Microscopy Congress : 1–5 September 2008, Aachen, Germany. Vol. 2, Materials science / eds. Silvia Richter, Alexander Schwedt. — Berlin ; Heidelberg : Springer-Verlag, cop. 2008. — S. 347–348

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Marek Blicharski

    cyfrowy identyfikator dokumentu: