A system for testing and characterization of ASIC/MPWS / Jerzy Zając, [et al.], Halina NIEMIEC, [et al.] // W: ELTE 2004 : VIII Electron Technology Conference : Stare Jabłonki 19–22. 04. 2004 : book of extended abstracts / eds. Agnieszka Mossakowska-Wyszyńska, Andrzej Pfitzner, Piotr Szwemin ; Warsaw University of Technoloy. Institute of Microelectronics and Optoelectronics. — Łódź : CMYK Studio Poligrafii i Reklamy, [2004]. — S. 277–278. — Bibliogr. s. 278, Abstr.

Analog signal processing in readout electronics for silicon detectors / H. MAŃKA, W. KUCEWICZ // W: MIXDES 2002 : Mixed Design of integrated circuits and systems : proceedings of the 9\textsuperscript{th} [ninth] international conference : Wrocław, Poland 20–22 June 2002 / ed. Andrzej Napieralski. — [Poland : s. n.], [2002]. — S. 593–598. — Bibliogr. s. 598, Abstr.

CMOS SOI technology characterization and verification of device models for analogue design : abstract / Mirosław Grodner, [et al.], Wojciech KUCEWICZ, Krzysztof Kucharski, Jacek Marczewski, Halina NIEMIEC, Maria SAPOR, Michał SZELŹNIAK, Daniel Tomaszewski // W: ELTE 2004 : VIII Electron Technology Conference : Stare Jabłonki 19–22. 04. 2004 : book of extended abstracts / eds. Agnieszka Mossakowska-Wyszyńska, Andrzej Pfitzner, Piotr Szwemin ; Warsaw University of Technoloy. Institute of Microelectronics and Optoelectronics. — Łódź : CMYK Studio Poligrafii i Reklamy, [2004]. — S. 259–260. — Bibliogr. s. 260

Data acquisition system for silicon ultra fast cameras for electron and gamma sources in medical applications / M. JASTRZĄB, W. KUCEWICZ, H. NIEMIEC, M. SAPOR [et al.] // W: MIXDES 2005 : MIXed DESign of integrated circuits and systems : proceedings of the 12\textsuperscript{th} international conference : Kraków, Poland 22–25 June 2004, Vol. 1 of 2 / ed. Andrzej Napieralski. — [Łodź : Technical University. Department of Microelectronics and Computer Science], 2005. — S. 601–604. — Bibliogr. s. 604, Abstr.

Design, fabrication and characterization of SOI pixel detectors of ionizing radiation / D. Tomaszewski [et al.], M. KOZIEŁ, W. KUCEWICZ, [et al.], S. KUTA, [et al.], H. NIEMIEC, M. SAPOR, M. SZELEŹNIAK // W: Science and technology of semiconductor on Insulator structures devices operating in a harsh environment [Dokument elektroniczny] : proceedings of the NATO Advanced Research Workshop : Kiev, Ukraine, 26–30 April 2004 / eds. Flandre Denis [et al.]. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — Netherlands : Kluwer Academic Publishers, 2005. — (NATO Science Series. Series II: Mathematics, Physics and Chemistry ; ISSN 1568-2609 ; vol. 185). — ISBN10: 1-4020-3011-8. — S. 291–296. — Bibliogr. ekran 296, Abstr.. — Tyt. przejęto z ekranu tytułowego. — tekst: https://goo.gl/QJtj2n

Development of monolithic active pixel sensor in SOI technology fabricated on the wafer with thick device layer / W. KUCEWICZ, B. M. Armstrong, H. S. Gamble, P. Grabiec, K. Kucharski, J. Marczewski, W. MAZIARZ, H. NIEMIEC, F. H. Ruddell, M. SAPOR, D. Tomaszewski // W: 2008 IEEE NSS/MIC/RTSD conference record [Dokument elektroniczny] : Nuclear Science Symposium (NSS) ; Medical Imaging Conference (MIC) ; 16th international workshop on Room-Temperature Semiconductor X- and Gamma-Ray Detectors (RTSD) : 19–25 October 2008 Dresden, Germany / guest ed. Paul Sellin ; Nuclear & Plasma Sciences Society, Institute of Electrical and Electronics Engineers. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [New York] : IEEE, 2008. — 1 dysk optyczny. — (IEEE conference record – Nuclear Science Symposium & Medical Imaging Conference ; ISSN 1082-3654). — e-ISBN: 978-1-4244-2715-4. — S. 1123–1125. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 1125, Abstr.

Development of readout circuit for monolithic active pixel sensors in SOI technology / Tomasz Klatka, Michał KOZIEŁ, Wojciech KUCEWICZ, Halina NIEMIEC, Maria SAPOR // W: Proceedings of the 16th European Conference on Circuits Theory and Design, ECCTD'03 : September 1st–4th, 2003 Cracow, Poland, Vol. 2 / eds. Z. Galias [et al.]. — Cracow : AGH University of Science and Technology. Faculty of Electrical Engineering, Automatics, Computer Science and Electronics, 2003. — S. II-9–II-12. — Bibliogr. s. II-12, Abstr.

Front-end electronics for SOI monolithic active pixel sensors / H. NIEMIEC, W. KUCEWICZ // W: ICSES'04 : proceedings of International Conference on Signals and Electronic Systems : 13–15 September, Poznań, Poland / eds. Maciej Bartkowiak [et al.]. — [Poland : Polish Society for Theoretical and Applied Electrical Engineering], [2004]. — S. 469–472. — Bibliogr. s. 472, Abstr.

Fully depleted monolithic active pixel sensor in SOI technology / W. KUCEWICZ, A. Bulgheroni [et al.], M. JASTRZĄB, A. Kociubinski, K. Kucharski, S. KUTA, J. Marczewski, H. NIEMIEC, M. SAPOR, D. Tomaszewski // W: Nuclear science symposium ; Medical imaging conference ; International workshop on room-temperature semiconductor X- and Gamma-ray detectors [Dokument elektroniczny] : [Roma, Italy, October 16–22, 2004] / IEEE, Nuclear & Plasma Sciences Society. — Dane tekstowe. — [Piscataway : IEEE], [2004]. — Ekran 1–4, N28–2. — Tryb dostępu: http://www.nss-mic.org/2004/conferencerecord/ [2005-01-14]. — Bibliogr. ekran 4, Abstr.. — Tyt. przejęto z ekranu tytułowego. — Toż. W: 2004 IEEE [Dokument elektroniczny] : NSS'04 Sessions ; MIC'04 Sessions ; RTSD'04 Sessions ; SNPS'04 Sessions : 16–22 October 2004, Rome, Italy : [special focus workshop]. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe / guest ed. Tony Seibert ; IEEE, Nuclear & Plasma Sciences Society. — Piscataway, NJ : The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc., cop. 2004. — 1 dysk optyczny. — S. [1–4]. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Tyt. przejęto z ekranu tytułowego. — (IEEE Conference Record – Nuclear Science Symposium & Medical Imaging Conference ; ISSN 1082-3654). — ISBN 0-7803-8701-5 (CD-ROM). — Toż w wersji drukowanej. — ISBN 0-7803-8700-7. — S. 1227–1230

Low voltage current feedback amplifier based on CMOS inverters suitable for deep submicron technology / W. MACHOWSKI, J. JASIELSKI, S. KUTA, H. NIEMIEC, M. SAPOR // W: MIXDES 2004 : MIXed DESign of integrated circuits and systems : proceedings of the 11\textsuperscript{th} international conference : Szczecin, Poland 24–26 June 2004 / ed. Andrzej Napieralski. — [Łodź : Technical University. Department of Microelectronics and Computer Science], 2004. — ISBN10: 8391928977. — S. 220–225. — Bibliogr. s. 225, Abstr.

Monolithic active pixel detector in SOI technology / Krzysztof Domański, [et al.], Wojciech KUCEWICZ, Krzysztof Kucharski, Stanisław KUTA, Witold MACHOWSKI, Jacek Marczewski, Halina NIEMIEC, Maria SAPOR, Michał SZELEŹNIAK, Daniel Tomaszewski // W: ELTE 2004 : VIII Electron Technology Conference : Stare Jabłonki 19–22. 04. 2004 : book of extended abstracts / eds. Agnieszka Mossakowska-Wyszyńska, Andrzej Pfitzner, Piotr Szwemin ; Warsaw University of Technoloy. Institute of Microelectronics and Optoelectronics. — Łódź : CMYK Studio Poligrafii i Reklamy, [2004]. — S. 245–246. — Bibliogr. s. 246, Abstr.

Monolithic active pixel detector in SOI technology : preliminary results / H. NIEMIEC, K. Domanski [et al.], M. KOZIEŁ, W. KUCEWICZ, K. Kucharski, S. KUTA, J. JASIELSKI, J. Marczewski, M. SAPOR, M. SZELEŹNIAK, D. Tomaszewski // W: 2004 24th International conference on Microelectronics : MIEL 2004 : Niš, Serbia and Montenegro, 16–19 May 2004 : proceedings, Vol. 1. — [Serbia : s. n.], [2004]. — S. 209–212. — Bibliogr. s. 211–212, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2004-07-09. — tekst: https://ieeexplore-1ieee-1org-1000047vb0069.wbg2.bg.agh.edu.pl/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=1314595

Monolithic active pixel detector realized in silicon on insulator technology / Krzysztof Domanski [et al.], Michał KOZIEŁ, Wojciech KUCEWICZ, Krzysztof Kucharski, Stanisław KUTA, Witold MACHOWSKI, Jacek Marczewski, Halina NIEMIEC, Maria SAPOR, Michał SZELEŹNIAK, Daniel Tomaszewski // W: VCI : 10\textsuperscript{th} Vienna Conference on Instrumentation : 16.–21. 02. 2004 : abstracts. — [Austria. : s. n.], [2004]. — S. 40, [8], T4.8

Preliminary measurements of the monolithic active pixel detector realized in the SOI technology / H. NIEMIEC, M. JASTRZĄB, W. KUCEWICZ, S. KUTA, M. SAPOR, M. SZELEŹNIAK [et al.] // W: MIXDES 2004 : MIXed DESign of integrated circuits and systems : proceedings of the 11\textsuperscript{th} international conference : Szczecin, Poland 24–26 June 2004 / ed. Andrzej Napieralski. — [Łodź : Technical University. Department of Microelectronics and Computer Science], 2004. — ISBN10: 8391928977. — S. 234–237. — Bibliogr. s. 237, Abstr.

SOI active pixel detectors of ionizing radiation : technology & design development / J. Marczewski, K. Domański, P. Grabiec, M. Grodner, B. Jaroszewicz, A. Kociubiński, K. Kucharski, D. Tomaszewski, W. KUCEWICZ, S. KUTA, W. MACHOWSKI, H. NIEMIEC, M. SAPOR, M. Caccia // W: Nuclear science symposium conference record, 2003 IEEE [Dokument elektroniczny] : 19–25 October 2003, Vol. 1 / IEEE. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [USA] : IEEE, 2004. — S. 365–367. — Tryb dostępu: https://ieeexplore-1ieee-1org-1000047b1013d.wbg2.bg.agh.edu.pl/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=1352064 [2018-08-09]. — Bibliogr. s. 367, Abstr.

Status of the SOI detector R&D / A. Bulgheroni, M. Caccia, C. Cappellini, M. JASTRZĄB, M. KOZIEŁ, W. KUCEWICZ, H. NIEMIEC, M. SAPOR, P. Grabiec, K. Kucharski, J. Marczewski, D. Tomaszewski // W: LCWS 05 : 2005 Ineternational Linear Collider Workshop : Stanford, California, USA, 18–22 March 2005. — [Stanford : s. n.], [2005]. — S. [1–3] 0812. — Bibliogr. s. [3]

SUCIMA – Silicon Ultra fast Cameras for electron and gamma sources in Medical Applications / M. Caccia [et al.], G. DEPTUCH, A. Dierlamm [et al.], M. JASTRZĄB, L. Jungermann, W. KUCEWICZ, K. Kucharski, S. KUTA, G. Leo, W. MACHOWSKI, J. Marczewski, G. Mondry, H. NIEMIEC, R. Novario [et al.], M. SAPOR, H. Schweickert [et al.] // W: Nuclear science symposium conference record, 2003 IEEE [Dokument elektroniczny] : 19–25 October 2003, Vol. 3 / IEEE. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [USA] : IEEE, 2004. — S. 1574–1578. — Bibliogr. s. 1578, Abstr.. — tekst: https://ieeexplore-1ieee-1org-1000047sz0125.wbg2.bg.agh.edu.pl/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=1352178

System for noise parameterization of MOS devices / M. KOZIEŁ, T. Klatka, W. KUCEWICZ, H. NIEMIEC // W: MIXDES 2005 : MIXed DESign of integrated circuits and systems : proceedings of the 12\textsuperscript{th} international conference : Kraków, Poland 22–25 June 2004, Vol. 1 of 2 / ed. Andrzej Napieralski. — [Łodź : Technical University. Department of Microelectronics and Computer Science], 2005. — S. 365–370. — Bibliogr. s. 370, Abstr.

Technology development for silicon monolithic pixel sensor in SOI technology / H. NIEMIEC, [et al.], M. KOZIEŁ, W. KUCEWICZ, S. KUTA, W. MACHOWSKI, M. SAPOR, M. SZELEŹNIAK, [et al.] // W: MIXDES 2003 : Mixed Design of integrated circuits and systems : proceedings of the 10\textsuperscript{th} international conference : Łódź, Poland 26–28 June 2003 / ed. Andrzej Napieralski. — Łódź : Technical University of Łódź. Department of Microelectronics and Computer Science, 2003. — ISBN10: 8372830959. — S. 508–511. — Bibliogr. s. 511, Abstr.

Technology of SOI monolithic active pixel detectors for improvement of I–V caracteristics and reliability / H. NIEMIEC, W. KUCEWICZ, M. SAPOR, P. Grabiec, K. Kucharski, J. Marczewski, D. Tomaszewski, B. M. Armstrong, M. Bain, P. Baine, H. S. Gamble, S. L. Suder, F. H. Ruddell // W: MIXDES 2008 : MIXed DESign of integrated circuits and systems : proceedings of the 15\textsuperscript{th} international conference : Poznań, Poland, 19–21 June, 2008 / ed. Andrzej Napieralski. — Łódź : Department of Microelectronics and Computer Science, Technical University of Łódź, cop. 2008 + CD-ROM. — ISBN10: 83-922632-7-8. — S. 463–465. — Bibliogr. s. 465, Abstr.. — W bazie Web of Science ISBN: 978-83-922632-7-2