Wykaz publikacji wybranego autora

Piotr Wiącek, dr inż.

adiunkt

Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej
WFiIS-kod, Katedra Oddziaływań i Detekcji Cząstek

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk ścisłych / dziedzina nauk fizycznych / fizyka

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-6970-7360 orcid iD

ResearcherID: A-2103-2017

Scopus: 6506367129

PBN: 5e709208878c28a04738eebe

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1
  • [referat, 2017]
  • TytułARTROC – a readout ASIC for GEM-based full-field XRF imaging system
    AutorzyT. FIUTOWSKI, W. DĄBROWSKI, S. KOPERNY, B. ŁACH, B. MINDUR, K. ŚWIENTEK, P. WIĄCEK
    ŹródłoiWoRiD Conference 2017 : 19textsuperscript {th} International workshop on Radiation imaging detectors : 2–6 July 2017, Kraków, Poland : book of abstracts. — [Kraków : s. n.], [2017]. — S. 37
2
3
  • [referat w czasopiśmie, 2017]
  • TytułIntegrated input protection against discharges for Micro Pattern Gas Detectors readout ASICs
    AutorzyT. FIUTOWSKI, W. DĄBROWSKI, S. KOPERNY, P. WIĄCEK
    ŹródłoJournal of Instrumentation [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne. — 2017 vol. 12 art. no. C02021, s. [2], 1–7. — tekst: http://iopscience.iop.org/article/10.1088/1748-0221/12/02/C02021/pdf
4
  • [artykuł w czasopiśmie, 2017]
  • TytułPerformance of a GEM detector with copper-less foils
    AutorzyB. MINDUR, T. FIUTOWSKI, S. KOPERNY, P. WIĄCEK, W. DĄBROWSKI
    ŹródłoJournal of Instrumentation [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne. — 2017 vol. 12 art. no. P09020, s. [2], 1–19. — tekst: https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1748-0221/12/09/P09020/pdf
5
  • [referat, 2017]
  • TytułThe full-field XRF imaging system for investigation of paintings : [abstract]
    AutorzyP. M. WRÓBEL, T. FIUTOWSKI, P. Frączek, S. KOPERNY, M. LANKOSZ, A. Mendys, B. MINDUR, K. ŚWIENTEK, P. WIĄCEK, W. DĄBROWSKI
    Źródło24textsuperscript{th} international congress of X-ray optics and microanalysis [Dokument elektroniczny] : Trieste, Italy, 25–29 September 2017. — [Triest : s. n.], [2017]. — S. [1]
6
  • [referat, 2017]
  • TytułThe full-filed XRF imaging system for non-invasive investigation of artworks : abstract
    AutorzyA. Mendys, T. FIUTOWSKI, [et al.], S. KOPERNY, M. LANKOSZ, B. ŁACH, B. MINDUR, K. ŚWIENTEK, P. WIĄCEK, P. WRÓBEL, W. DĄBROWSKI
    ŹródłoNUTECH-2017 [Dokument elektroniczny] : international conference on Developments and applications of nuclear technologies : Kraków, 10–13 September 2017. — [Kraków : s. n.], [2017]. — S. [1] S3_6