Wykaz publikacji wybranego autora

Tomasz Tokarski, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Akademickie Centrum Materiałów i Nanotechnologii
ACMIN-zim, Zakład Inżynierii Materiałowej


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-5733-7809 połącz konto z ORCID

ResearcherID: F-7487-2015

Scopus: 6602167288

PBN: 5e709213878c28a04738f8b7

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
2
3
4
5
6
  • Refined calibration model for improving the orientation precision of electron backscatter diffraction maps / Aimo WINKELMANN, Gert Nolze, Grzegorz CIOS, Tomasz TOKARSKI, Piotr BAŁA // Materials [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1996-1944. — 2020 vol. 13 iss. 12 art. no. 2816, s. 1–20. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 17–20, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2020-06-23. — A. Winkelmann – dod. afiliacja: University of Strathclyde, Glasgow. — P. Bała – dod. afiliacja: ACMiN. — tekst: https://www.mdpi.com/1996-1944/13/12/2816/pdf

  • keywords: scanning electron microscopy, electron backscatter diffraction, Kikuchi diffraction, projection center, orientation precision

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.3390/ma13122816

7
8