Wykaz publikacji wybranego autora

Tomasz Tokarski, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Akademickie Centrum Materiałów i Nanotechnologii
ACMIN-zim, Zakład Inżynierii Materiałowej

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-5733-7809 połącz konto z ORCID

ResearcherID: F-7487-2015

Scopus: 6602167288

PBN: 5e709213878c28a04738f8b7

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1

  • EBSD study of deformation microstructure of FCC single crystals with different stacking fault energy subjected to wire drawing process / Tomasz TOKARSKI, Grzegorz CIOS, Dorota Moszczyńska, Jarosław Mizera // W: EM'2020 [Dokument elektroniczny] : XVII international conference on Electron Microscopy : November 30\textsuperscript{th} - December 2\textsuperscript{nd} 2020, Katowice, Poland : book of abstracts / Silesian University of Technology, Institute of Metallurgy and Materials Science. Polish Academy of Sciences, PTMi. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Poland : Silesian University of Technology], [2020]. — 1 dysk optyczny. — S. 69. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM

  • keywords: EBSD, wire drawing, FCC single crystals, TKD

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Grzegorz Cios

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2

  • Methods for quasicrystals analysis using EBSD / Grzegorz CIOS, Aimo WINKELMANN, Gert Nolze, Tomasz TOKARSKI, Piotr BAŁA // W: EM'2020 [Dokument elektroniczny] : XVII international conference on Electron Microscopy : November 30\textsuperscript{th} - December 2\textsuperscript{nd} 2020, Katowice, Poland : book of abstracts / Silesian University of Technology, Institute of Metallurgy and Materials Science. Polish Academy of Sciences, PTMi. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Poland : Silesian University of Technology], [2020]. — 1 dysk optyczny. — S. 48. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM. — A. Winkelmann - dod. afiliacja: University of Strathclyde, Glasgow, P. Bała - dod. afiliacja: Faculty of Metals and Industrial Computer Science, AGH University of Science and Technology

  • keywords: EBSD, quasi crystals, approximants, dynamical simulation

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Piotr Bała, Grzegorz Cios, Aimo Winkelmann

    cyfrowy identyfikator dokumentu: