Wykaz publikacji wybranego autora

Katarzyna Zakrzewska, prof. dr hab. inż.

profesor zwyczajny

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki

  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-3016-4527 orcid iD

ResearcherID: B-4581-2011

Scopus: 56253084500

PBN: 5e70922c878c28a047391230

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1
  • [referat, 2000]
  • TytułGas adsorption on highly diffusing surfaces of $(Sn,Ti)O_{2}$ thin films
    AutorzyM. RADECKA, K. ZAKRZEWSKA
    ŹródłoSurface Engineering: in materials science I : proceedings of a symposium by the TMS Surface Modification & Coatings Technology Committee (SMC) and the Materials Processing and Manufacturing Division (MPMD), held during the 2000 TMS Annual Meeting : Nashville, Tennessee March 12–16, 2000 / ed. Sudipta Seal [et al.]. — Warrendale : The Minerals, Metals & Materials Society, 2000. — S. 267–276
2
  • [referat, 2000]
  • TytułIndium oxide thin film with a large surface area
    AutorzyT. PISARKIEWICZ, T. STAPIŃSKI, A. SUTOR, K. ZAKRZEWSKA
    ŹródłoSurface Engineering: in materials science I : proceedings of a symposium by the TMS Surface Modification & Coatings Technology Committee (SMC) and the Materials Processing and Manufacturing Division (MPMD), held during the 2000 TMS Annual Meeting : Nashville, Tennessee March 12–16, 2000 / ed. Sudipta Seal [et al.]. — Warrendale : The Minerals, Metals & Materials Society, 2000. — S. 115–120
3
  • [referat, 2000]
  • TytułMicrostructure of $TiO_{2-x}$ thin films reactively sputtered by DC magnetron
    AutorzyK. ZAKRZEWSKA, A. BRUDNIK, E. KUSIOR, M. RADECKA, A. Kowal
    ŹródłoSurface Engineering: in materials science I : proceedings of a symposium by the TMS Surface Modification & Coatings Technology Committee (SMC) and the Materials Processing and Manufacturing Division (MPMD), held during the 2000 TMS Annual Meeting : Nashville, Tennessee March 12–16, 2000 / ed. Sudipta Seal [et al.]. — Warrendale : The Minerals, Metals & Materials Society, 2000. — S. 163–172
4
  • [referat w czasopiśmie, 2000]
  • TytułRf-sputtered thin film gas sensors based on modified tin dioxide
    AutorzyM. RADECKA, P. PASIERB, K. ZAKRZEWSKA, A. Kowal
    ŹródłoElectron Technology. — 2000 vol. 33 no. 1/2, s. 73–78
5