adiunkt
Faculty of Metals Engineering and Industrial Computer Science WIMiIP-kmm
ORCID: brak
ResearcherID: brak
Scopus: brak
OPI Nauka Polska
Sposób i uchwyt do badania próbek substancji polikrystalicznych metodą dyfrakcji promieni rentgenowskich — [Method of and holder for examining samples of polycrystalline substances by X-ray diffraction] / Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie ; wynalazca: Antoni PAŃTA. — Int.Cl.\textsuperscript{7}: G01N 23/20. — Polska. — Opis patentowy ; PL 184162 B1 ; Udziel. 2002-04-05 ; Opubl. 2002-09-30. — Zgłosz. nr P.322606 z dn. 1997-10-13. — tekst: http://patenty.bg.agh.edu.pl/pelneteksty/PL184162B1.pdf
brak zdefiniowanych słów kluczowych
cyfrowy identyfikator dokumentu:
Sposób określania średniego wskaźnika plastycznej anizotropii blachy głębokotłocznej — [Method of determining an average plastic anisotropy index of deep-drawing metal sheet] / Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie ; wynalazca: Antoni PAŃTA, Krzysztof CHRUŚCIEL, Wiesław Pawłowski, Jerzy Szopa, Wiesław Migas. — Int.Cl.: G01N 23/203\textsuperscript{(2006.01)}. — Polska. — Opis patentowy ; PL 198931 B1 ; Udziel. 2007-12-28 ; Opubl. 2008-08-29. — Zgłosz. nr P.350865 z dn. 2001-11-26. — tekst: http://patenty.bg.agh.edu.pl/pelneteksty/PL198931B1.pdf
Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Krzysztof Chruściel
Sposób określania średniego wskaźnika plastycznej anizotropii blachy głębokotłocznej — [Method of determining an average plastic anisotropy index of deep-drawing metal sheet] / Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie ; wynalazca: PAŃTA Antoni, CHRUŚCIEL Krzysztof, Pawłowski Wiesław, Szopa Jerzy, Migas Wiesław. — Int.Cl.\textsuperscript{7}: G01N 23/20. — Polska. — Opis zgłoszeniowy wynalazku ; PL 350865 A1 ; Opubl. 2003-06-02. — Zgłosz. nr P.350865 z dn. 2001-11-26 // Biuletyn Urzędu Patentowego ; ISSN 0137-8015 ; 2003 nr 11, s. 34. — tekst: http://patenty.bg.agh.edu.pl/pelneteksty/PL350865A1.pdf