Wykaz publikacji wybranego autora

Adam Kruk, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kmm, Katedra Metaloznawstwa i Metalurgii Proszków


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-9269-8271 orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 7003831116

PBN: 5e70920b878c28a04738f0cc

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • Application of TEM and FIB-SEM tomography for analysis of micro- and nanostructural elements in 718Plus superalloy / A. KRUK, G. CEMPURA, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: Abstract book of 10th Japanese-Polish joint seminar on Micro and nano analysis : advances in microscopy and microanalysis for soft/hard materials : 24–26 October, 2014, Sapporo, Japan / Hokkaido University. Faculty of Engineering. — [Sapporo : Hokkaido University], [2014]. — S. 26–27

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
3
4
  • The 3D imaging of 718Plus superalloy microstructure by FIB-SEM tomography : poster / KRUK A., CEMPURA G., CZYRSKA-FILEMONOWICZ A. // W: IMC 2014 [Dokument elektroniczny] : 18\textsuperscript{th} International Microscopy Congress : Microscopy for global challenges touching atoms, molecules, nanostructures and cells by multidimensional microscopy : Prague, 7–12 September 2014 : proceedings / ed. Pavel Hozak. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Czech Republic : Czechoslovak Microscopy Society], cop. 2014. — Dysk Flash. — Opis częśc. wg okł.. — S. [1–2], poz. MS-4-P-1984. — Bibliogr. s. [1]. — Tytuł przejęto z ekranu tytułowego (po wybraniu opcji: poz. 1984)

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: