Wykaz publikacji wybranego autora

Jan Kusiński, prof. dr hab. inż.

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kip, Katedra Inżynierii Powierzchni i Analiz Materiałów

2018
[dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa

Identyfikatory Autora	Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych
ORCID: 0000-0002-1724-8219 połącz konto z ORCID ResearcherID: brak Scopus: 56039432900 PBN: 5e70920b878c28a04738f0ce	OPI Nauka Polska System Informacyjny AGH (SkOs)

Identyfikatory Autora

Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-1724-8219 połącz konto z ORCID

ResearcherID: brak

Scopus: 56039432900

PBN: 5e70920b878c28a04738f0ce

wydruk:

sortowanie:

1

Influence of $Ca$ content and oxygen partial pressure on microstructural evolution of $(Co,Ca)O$ at elevated temperatures
Influence of $Ca$ content and oxygen partial pressure on microstructural evolution of $(Co,Ca)O$ at elevated temperatures / J. KUSIŃSKI, I. CIENIEK, G. Petot-Ervas, C. Petot, G. Baldinozzi // Journal of Microscopy ; ISSN 0022-2720. — 2006 vol. 224 pt. 1, s. 30–33. — Bibliogr. s. 33, Summ.. — Publikacja dostępna online od: 2006-11-08. — tekst: https://goo.gl/7gn6aC

2

Morphologies and structures of $Ce_{1-x}M_{x}O_{2-\delta}/Si$ thin films grown by pulsed laser deposition
Morphologies and structures of $Ce_{1-x}M_{x}O_{2-\delta}/Si$ thin films grown by pulsed laser deposition / M. CHMIELOWSKA, A. KOPIA, J. KUSIŃSKI, J. R. Gavarri, Ch. Leroux // W: IMC16 : 16th International Microscopy Congress : Microscopy for the 21st century : 3–8 September 2006 Sapporo, Japan : proceedings. Vol. 3, Materials science / eds. Hideki Ichinose, Takahisa Sasaki. — [Japan : Publication committee of IMC16], [2006]. — S. 1568. — Bibliogr. s. 1568

3

Scanning electron microscopy and transmission electron microscopy microstructural investigation of high-speed tool after Nd:YAG pulsed laser melting
Scanning electron microscopy and transmission electron microscopy microstructural investigation of high-speed tool after Nd:YAG pulsed laser melting / S. KĄC, J. KUSIŃSKI, A. ZIELIŃSKA-LIPIEC, I. Wrońska // Journal of Microscopy ; ISSN 0022-2720. — 2006 vol. 224, pt. 1, s. 65–67. — Bibliogr. s. 67, Summ.

4

Structural analyses of $Nd-doped$ $CeO_{2}$ thin films deposited by pulsed laser deposition
Structural analyses of $Nd-doped$ $CeO_{2}$ thin films deposited by pulsed laser deposition / A. KOPIA, M. CHMIELOWSKA, Ch. Leroux, J. P. Dallas, J. R. Gavarri, J. KUSIŃSKI // Journal of Microscopy ; ISSN 0022-2720. — 2006 vol. 224 pt. 1, s. 49–51. — Bibliogr. s. 51, Summ.. — tekst: https://goo.gl/mHjSLg

5

The structure and mechanical properties of amorphous and nanocrystalline $Fe-Si-B$ alloys
The structure and mechanical properties of amorphous and nanocrystalline $Fe-Si-B$ alloys / A. SYPIEŃ, J. KUSIŃSKI // Journal of Microscopy ; ISSN 0022-2720. — 2006 vol. 224 pt. 1, s. 111–113. — Bibliogr. s. 113, Summ.. — tekst: https://goo.gl/Jm9Mw8