Wykaz publikacji wybranego autora

Michał Szyper, prof. dr hab. inż.

profesor zwyczajny

* Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki
WEAIiE-km, * Katedra Metrologii

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: 6603589219

OPI Nauka Polska

1
  • [fragment książki, 1999]
  • TytułInductance measurement
    AutorzyMichał SZYPER
    ŹródłoThe measurement, instrumentation, and sensors : handbook / ed. John G. Webster. — [Boca Raton] : CRC Press : IEEE Press, [1999]. — S. 50-1–50-13
2
  • [artykuł w czasopiśmie, 2005]
  • TytułModel study on complex modulation and demodulation of power network voltage signal loaded with time-variable impedance
    AutorzyAndrzej BIEŃ, Michał SZYPER, Andrzej WETULA
    ŹródłoMetrologia i Systemy Pomiarowe / Polska Akademia Nauk. Komitet Metrologii i Aparatury Naukowej. — 2005 vol. 12 no. 3, s. 263–274
3
  • [referat, 2006]
  • TytułResponse and sensitivity of $TiO_{2}-SnO_{2}$ semiconducting sensors for reducing gases
    AutorzyKatarzyna ZAKRZEWSKA, Marta RADECKA, Michał SZYPER
    ŹródłoCOE 2006 : Czujniki Optoelektroniczne i Elektroniczne : IX konferencja naukowa : Kraków – Zakopane 19–22 czerwca 2006 : materiały konferencyjne / kom. red.: Elżbieta Schabowska-Osiowska, Teresa Kenig, Wojciech Maziarz ; AGH, PTTS. — Kraków : Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki Akademii Górniczo-Hutniczej, 2006. — S. 263–266
4
  • [referat, 2006]
  • TytułResponse and sensitivity of $TiO_{2}-SnO_{2}$ semiconducting sensors for reducing gases
    AutorzyKatarzyna ZAKRZEWSKA, Marta RADECKA, Michał SZYPER
    ŹródłoOptoelectronic and electronic sensors VI : 19–22 June 2006, Zakopane, Poland / ed. Tadeusz Pisarkiewicz. — Bellingham ; Washington : SPIE – ISOE, cop. 2006. — S. 63480G-1–63480G-4
5
  • [artykuł w czasopiśmie, 2005]
  • TytułThe new measure of low-frequency disturbaces in power system
    AutorzyAndrzej BIEŃ, Krzysztof DUDA, Michał SZYPER, Andrzej WETULA, Tomasz P. ZIELIŃSKI, Antoni ROZKRUT
    ŹródłoMetrologia i Systemy Pomiarowe / Polska Akademia Nauk. Komitet Metrologii i Aparatury Naukowej. — 2005 vol. 11 no. 2, s. 121–130. — tekst: http://www.metrology.pg.gda.pl/full/2005/M&MS_2005_121.pdf