Wykaz publikacji wybranego autora

Michał Szyper, prof. dr hab. inż.

profesor zwyczajny

* Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki
WEAIiE-km, * Katedra Metrologii

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: 6603589219

OPI Nauka Polska

1
  • [referat, 2005]
  • TytułAproksymacja hiperbolicznego okna czasowego sumą kosinusoid
    AutorzyMichał SZYPER
    ŹródłoModelowanie i symulacja systemów pomiarowych : materiały XV sympozjum : Krynica, 18–22 września 2005 / pod red. Janusza Gajdy ; Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Katedra Metrologii. — Kraków : Wydawnictwo Katedry Metrologii AGH, 2005. — S. 89–94
2
  • [referat, 2005]
  • TytułBadania modelowe sygnałów mierzonych miernikiem uciążliwości migotania światła
    AutorzyAndrzej BIEŃ, Michał SZYPER, Andrzej WETULA
    ŹródłoModelowanie i symulacja systemów pomiarowych : materiały XV sympozjum : Krynica, 18–22 września 2005 / pod red. Janusza Gajdy ; Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Katedra Metrologii. — Kraków : Wydawnictwo Katedry Metrologii AGH, 2005. — S. 193–201
3
  • [referat, 2000]
  • TytułBadania modelowe systemów pomiarowych
    AutorzyMichał SZYPER
    ŹródłoSystemy pomiarowe w badaniach naukowych i w przemyśle SP'2000 : III konferencja : Zielona Góra 2000 : materiały konferencyjne / Komitet Badań Naukowych [et al.]. — Zielona Góra : Wydawnictwo Politechniki Zielonogórskiej, 2000. — S. 9–24
4
  • [referat, 2005]
  • TytułBadania modelowe systemów pomiarowych w zastosowaniu do analizy ich właściwości metrologicznych oraz do optymalizacji parametrycznej
    AutorzyMichał SZYPER
    ŹródłoPerspektywy i prognozy rozwojowe badań na styku automatyki i metrologii : sympozjum naukowe : Szczecin–Niechorze 15–17 kwietnia 2005 : referaty. — Szczecin : Wydawnictwo Uczelniane Politechniki Szczecińskiej, 2005. — S. 125–133
5
  • [referat, 1999]
  • TytułModel cyfrowej wersji układu flickermetera
    AutorzyAndrzej BIEŃ, Michał SZYPER
    ŹródłoModelowanie i symulacja systemów pomiarowych : materiały IX sympozjum : Krynica, 20–24 września 1999 / Akademia Górniczo-Hutnicza. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Zakład Metrologii. — Kraków : Wydawnictwo ZM AGH, 1999. — S. 247–254
6
  • [referat, 2000]
  • TytułModel zjawiska modulacji amplitudy sygnału napięcia sieci elektroenergetycznej przez wolnozmienną impedancję obciążenia i jego eksperymentalna weryfikacja
    AutorzyAndrzej BIEŃ, Józef CZAJKOWSKI, Michał SZYPER
    ŹródłoModelowanie i symulacja systemów pomiarowych : materiały X jubileuszowego sympozjum : Krynica, 18–22 września 2000 / Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Zakład Metrologii. — Kraków : Wydawnictwo Zakładu Metrologii AGH, 2000. — S. 269–275
7
  • [referat, 2006]
  • TytułResponse and sensitivity of $TiO_{2}-SnO_{2}$ semiconducting sensors for reducing gases
    AutorzyKatarzyna ZAKRZEWSKA, Marta RADECKA, Michał SZYPER
    ŹródłoCOE 2006 : Czujniki Optoelektroniczne i Elektroniczne : IX konferencja naukowa : Kraków – Zakopane 19–22 czerwca 2006 : materiały konferencyjne / kom. red.: Elżbieta Schabowska-Osiowska, Teresa Kenig, Wojciech Maziarz ; AGH, PTTS. — Kraków : Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki Akademii Górniczo-Hutniczej, 2006. — S. 263–266
8
  • [referat, 2006]
  • TytułResponse and sensitivity of $TiO_{2}-SnO_{2}$ semiconducting sensors for reducing gases
    AutorzyKatarzyna ZAKRZEWSKA, Marta RADECKA, Michał SZYPER
    ŹródłoOptoelectronic and electronic sensors VI : 19–22 June 2006, Zakopane, Poland / ed. Tadeusz Pisarkiewicz. — Bellingham ; Washington : SPIE – ISOE, cop. 2006. — S. 63480G-1–63480G-4
9
  • [referat, 2001]
  • TytułSposób oceny wartości miary migotania światła w sieciach elektroenergetycznych metodą badań modelowych
    AutorzyAndrzej BIEŃ, Michał SZYPER
    ŹródłoModelowanie i symulacja systemów pomiarowych : materiały XI [jedenastego] sympozjum : Krynica, 17–21 września 2001 / Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Zakład Metrologii. — Kraków : Wydawnictwo Zakładu Metrologii AGH, 2001. — S. 137–142
10
  • [referat, 2004]
  • TytułTestowanie modelu miernika uciążliwości migotania światła sygnałem napięcia o modulowanym kącie
    AutorzyAndrzej BIEŃ, Michał SZYPER, Andrzej WETULA
    ŹródłoModelowanie i symulacja systemów pomiarowych : materiały XIV sympozjum : Krynica, 19–23 września 2004 / pod red. Janusza Gajdy ; Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Katedra Metrologii. — Kraków : Wydawnictwo Katedry Metrologii AGH, 2004. — S. 133–140
11
  • [referat, 1999]
  • TytułTransformaty okien hiperbolicznych
    AutorzyMichał SZYPER
    ŹródłoModelowanie i symulacja systemów pomiarowych : materiały IX sympozjum : Krynica, 20–24 września 1999 / Akademia Górniczo-Hutnicza. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Zakład Metrologii. — Kraków : Wydawnictwo ZM AGH, 1999. — S. 153–157
12
  • [referat, 2004]
  • TytułZastosowanie sygnału analitycznego napięcia sieci energetycznej do oceny jakości energii elektrycznej
    AutorzyAndrzej BIEŃ, Krzysztof DUDA, Andrzej Kapusta, Michał SZYPER, Andrzej WETULA, Tomasz ZIELIŃSKI
    ŹródłoKM Kongres Metrologii : metrologia w procesie poznania : Wrocław, 6–9.09.2004 : materiały kongresowe, T. 2 / pod red. Janusza Mroczki. — [Polska : s. n.], [2004]. — S. 557–559