Wykaz publikacji wybranego autora

Mateusz Kopyściański, dr inż.

adiunkt

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kip, Katedra Inżynierii Powierzchni i Analiz Materiałów


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-7313-8989 orcid iD

ResearcherID: DXA-7944-2022

Scopus: 55151175700

PBN: 5e7093de878c28a0473b2415

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • TEM characterization of a 7042 aluminum FSW joint / Mateusz KOPYŚCIAŃSKI, Stanisław DYMEK, Carter Hamilton // Diffusion and Defect Data – Solid State Data. Part B, Solid State Phenomena ; ISSN 1012-0394. — 2012 vol. 186, s. 331–334. — Bibliogr. s. 334, Abstr.. — Electron Microscopy XIV : selected peer reviewed papers from the XIV international conference on Electron Microscopy (EM 2011) : June 26–30, 2011, Wisla, Poland / ed. Danuta Stróż, Krystian Prusik. — Durnten-Zurich : Trans Tech Publications Ltd, cop. 2012. — ISBN-13 978-3-03785-381-8. — tekst: http://www.scientific.net/SSP.186.331.pdf

  • keywords: FSW, 7042 aluminium alloy, Al3(Sc,Zr)

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.4028/www.scientific.net/SSP.186.331