Wykaz publikacji wybranego autora

Mateusz Kopyściański, dr inż.

adiunkt

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kip, Katedra Inżynierii Powierzchni i Analiz Materiałów


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-7313-8989 orcid iD

ResearcherID: DXA-7944-2022

Scopus: 55151175700

PBN: 5e7093de878c28a0473b2415

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • TEM characterization of a 7042 aluminum FSW joint / KOPYŚCIAŃSKI M., DYMEK S., Hamilton C. // W: EM 2011 : XIV\textsuperscript{th} international conference on Electron Microscopy : 26–30 June, 2011, Wisła, Poland : programme & abstracts. — [Polska : s. n.], 2011. — S. 140–141

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: