Wykaz publikacji wybranego autora

Krzysztof Kulawik, mgr inż.

doktorant

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kmm, Katedra Metaloznawstwa i Metalurgii Proszków


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: brak

OPI Nauka Polska




1
  • Application of ChemiSTEM EDX to elemental mapping of $\gamma'$ and $\gamma”$ nanoparticles in Inconel 718 superalloy / K. KULAWIK, P. A. BUFFAT, B. DUBIEL, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: emc2012 Manchester [Dokument elektroniczny] : proceedings of the 15th European Microscopy Congress : 16th–21st September 2012, Manchester, UK / RMS The Royal Microscopical Society, IFSM International Federation of Societies for Microscopy. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [UK : s. n.], [2012]. — 1 dysk optyczny. — S. [1–2]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD. — Bibliogr. s. [1–2]. — Tyt. przejeto z ekranu tytułowego. — Dod. afiliacja autora: P. A. Buffat'a: Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • Metrology and morphology of $\gamma$' and $\gamma$” nanoparticles in Inconel 718 measured by FIB/SEM tomography / K. KULAWIK, B. DUBIEL, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: STERMAT 2012 : IX international conference on Stereology and image analysis in materials : 3–6 September, 2012, Zakopane, Poland : program & abstracts. — [Poland : s. n.], [2012]. — Opis częśc. wg okł.. — S. 9. — Bibliogr. s. 9

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • Probe Cs-corrected STEM with ChemiSTEM EDX microanalysis system for characterisation of $\gamma$' and $\gamma$” nanoparticles strengthening Inconel 718 superalloy / K. KULAWIK, P. A. BUFFAT, B. DUBIEL, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: C-MAC Days 2012 : 10–13.12.2012 Kraków, Poland : proceedings / eds. M. Lipińska-Chwałek, A. Czyrska-Filemonowicz. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe AKAPIT, 2012. — ISBN: 978-83-63663-07-0. — S. 25. — Bibliogr. s. 25. — Dod. afiliacja P. A. Buffat: Ecole Politechnique Fédérale de Lausanne, Switzerland

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
  • Three-dimensional visualization and metrology of nanoparticles in Inconel 718 by electron tomography / Krzysztof KULAWIK, Adam KRUK, Beata DUBIEL, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ // Diffusion and Defect Data – Solid State Data. Part B, Solid State Phenomena ; ISSN 1012-0394. — 2012 vol. 186, s. 45–48. — Bibliogr. s. 48, Abstr.. — Electron Microscopy XIV : selected peer reviewed papers from the XIV international conference on Electron Microscopy (EM 2011) : June 26–30, 2011, Wisla, Poland / ed. Danuta Stróż, Krystian Prusik. — Durnten-Zurich : Trans Tech Publications Ltd, cop. 2012. — ISBN-13 978-3-03785-381-8. — tekst: http://www.scientific.net/SSP.186.45.pdf

  • keywords: electron tomography, nano particles, Inconel 718, FIB tomography

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.4028/www.scientific.net/SSP.186.45