Application of ChemiSTEM EDX to elemental mapping of $\gamma'$ and $\gamma”$ nanoparticles in Inconel 718 superalloy / K. KULAWIK, P. A. BUFFAT, B. DUBIEL, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: emc2012 Manchester [Dokument elektroniczny] : proceedings of the 15th European Microscopy Congress : 16th–21st September 2012, Manchester, UK / RMS The Royal Microscopical Society, IFSM International Federation of Societies for Microscopy. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [UK : s. n.], [2012]. — 1 dysk optyczny. — S. [1–2]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD. — Bibliogr. s. [1–2]. — Tyt. przejeto z ekranu tytułowego. — Dod. afiliacja autora: P. A. Buffat'a: Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne

Metrology and morphology of $\gamma$' and $\gamma$” nanoparticles in Inconel 718 measured by FIB/SEM tomography / K. KULAWIK, B. DUBIEL, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: STERMAT 2012 : IX international conference on Stereology and image analysis in materials : 3–6 September, 2012, Zakopane, Poland : program & abstracts. — [Poland : s. n.], [2012]. — Opis częśc. wg okł.. — S. 9. — Bibliogr. s. 9

Probe Cs-corrected STEM with ChemiSTEM EDX microanalysis system for characterisation of $\gamma$' and $\gamma$” nanoparticles strengthening Inconel 718 superalloy / K. KULAWIK, P. A. BUFFAT, B. DUBIEL, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: C-MAC Days 2012 : 10–13.12.2012 Kraków, Poland : proceedings / eds. M. Lipińska-Chwałek, A. Czyrska-Filemonowicz. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe AKAPIT, 2012. — ISBN: 978-83-63663-07-0. — S. 25. — Bibliogr. s. 25. — Dod. afiliacja P. A. Buffat: Ecole Politechnique Fédérale de Lausanne, Switzerland