A first-level event selector for the CBM experiment at FAIR / J. de Cuveland, V. Lindenstruth, [et al.], M. BASZCZYK, [et al.], J. GAJDA, [et al.], P. GRYBOŚ, [et al.], K. KASIŃSKI, [et al.], R. KŁECZEK, [et al.], W. KUCEWICZ, [et al.], P. MAJ, [et al.], P. OTFINOWSKI, [et al.], R. SZCZYGIEŁ, [et al.], M. ŻOŁĄDŹ, [et al.] // Journal of Physics. Conference Series ; ISSN 1742-6588. — 2011 vol. 331 iss. 2 art. no. 022006, s. 1–6. — Bibliogr. s. 6, Abstr.. — International conference on Computing in High Energy and Nuclear Physics (CHEP 2010) : Taipei, Taiwan, October 18–22, 2010. — tekst: http://iopscience.iop.org/1742-6596/331/2/022006/pdf/1742-6596_331_2_022006.pdf

Selected solutions in printed circuit boards for silicon detector readout integrated circuits testing — Wybrane rozwiązania w obwodach drukowanych do testowania układów scalonych do odczytu detektorów krzemowych / Krzysztof KASIŃSKI // Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania (Warszawa) ; ISSN 0033-2089. — Tytuł poprz.: Przegląd Elektroniki. — 2011 R. 52 nr 12, s. 78–80. — Bibliogr. s. 80, Streszcz., Summ.

System do testowania specjalizowanych układów scalonych do odczytu detektorów paskowych — Test system for the silicon strip detector readout application-specific integrated circuits / Krzysztof KASIŃSKI // PAR Pomiary Automatyka Robotyka ; ISSN 1427-9126. — 2011 R. 15 nr 7–8, s. 70–74. — Bibliogr. s. 74, Streszcz., Abstr.

TOT01, a time-over-threshold based readout chip in 180nm CMOS technology for silicon strip detectors / K. KASIŃSKI, R. SZCZYGIEŁ, P. GRYBOŚ // Journal of Instrumentation [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1748-0221. — 2011 vol. 6, s. 1–6. — Bibliogr. s. 6. — 12th international workshop on Radiation imaging detectors : July 11th–15th 2010. — tekst: http://iopscience.iop.org/1748-0221/6/01/C01026/pdf/1748-0221_6_01_C01026.pdf