Hydrogen charging effects in $Pd/Ti/TiO_{2}/Ti$ thin films deposited on Si(111) studied by ion beam analysis methods / K. DROGOWSKA, S. Flege, C. Schmitt, D. Rogalla, H.-W. Becker, Nhu-T. H. Kim-Ngan, A. BRUDNIK, Z. TARNAWSKI, K. ZAKRZEWSKA, M. Marszałek, A. G. Balogh // Advances in Materials Science and Engineering [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1687-8434. — 2012 art. no. 269603, s. [1–8]. — Tryb dostępu: http://www.hindawi.com/journals/amse/2012/269603/cta/ [2012-01-19]. — Bibliogr. s. 7–8. — K. Drogowska - dod. afiliacja: Technische Universität Darmstadt

RBS, XRR and optical reflectivity measurements of ${Ti-TiO_{2}}$ thin films deposited by magnetron sputtering / K. DROGOWSKA, Z. TARNAWSKI, A. BRUDNIK, E. KUSIOR, M. SOKOŁOWSKI, K. ZAKRZEWSKA, A. Reszka, N.-T. H. Kim-Ngan, A. G. Balogh // Materials Research Bulletin ; ISSN 0025-5408. — 2012 vol. 47 iss. 2, s. 296–301. — Bibliogr. s. 301, Abstr.. — tekst: http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0025540811005460/pdfft?md5=09a5797866042a961189290bae5e80bb&pid=1-s2.0-S0025540811005460-main.pdf

${VO_{x}}$ thin films deposited by reactive rf sputtering / Krystyna SCHNEIDER, Katarzyna ZAKRZEWSKA, Zbigniew TARNAWSKI, Karolina DROGOWSKA, Nhu-T. H. Kim-Ngan, A. G. Balogh // W: XVI French-Polish seminar on Reactivity of solids : December 10–12, 2012, Kraków, Poland : book of abstracts. — [Kraków : s. n.], [2012]. — S. [1]