Diffusion and chemical composition of ${TiN_{x}O_{y}}$ thin films studied by Rutherford Backscattering Spectroscopy / K. DROGOWSKA, N.–T. H. Kim-Ngan, A. G. Balogh, M. RADECKA, A. BRUDNIK, K. ZAKRZEWSKA, Z. TARNAWSKI // Surface Science ; ISSN 0039-6028. — 2010 vol. 604 iss. 11–12, s. 1010–1014. — Bibliogr. s. 1014, Abstr.. — tekst: http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0039602810001056/pdfft?md5=8247320eb872070ddeea0b41ae7c2bd3&pid=1-s2.0-S0039602810001056-main.pdf

Hydrogen charging effects in $Pd/Ti/TiO_{2}/Ti$ thin films deposited on Si(111) studied by ion beam analysis methods / K. DROGOWSKA, S. Flege, C. Schmitt, D. Rogalla, H.-W. Becker, Nhu-T. H. Kim-Ngan, A. BRUDNIK, Z. TARNAWSKI, K. ZAKRZEWSKA, M. Marszałek, A. G. Balogh // Advances in Materials Science and Engineering [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1687-8434. — 2012 art. no. 269603, s. [1–8]. — Tryb dostępu: http://www.hindawi.com/journals/amse/2012/269603/cta/ [2012-01-19]. — Bibliogr. s. 7–8. — K. Drogowska - dod. afiliacja: Technische Universität Darmstadt

Hydrogen storage in Ti, V and their oxides-based thin films / Z. TARNAWSKI, K. ZAKRZEWSKA, N.-T. H. Kim-Ngan, M. Krupska, S. Sowa, K. DROGOWSKA, L. Havela, A. G. Balogh // Advances in Natural Sciences. Nanoscience and Nanotechnology [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 2043-6262. — 2015 vol. 6 no. 1, s. 1–8, art. no. 013002. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 7–8, Abstr.. — 7th International Workshop on Advanced Materials Science and Nanotechnology IWAMSN2014 : 2–6 November, 2014, Ha Long, Vietnam. — tekst: http://iopscience.iop.org/2043-6262/6/1/013002/pdf/2043-6262_6_1_013002.pdf

Hydrogen storage in $Ti–TiO_{2}$ multilayers / Z. TARNAWSKI, Nhu-T. H. Kim-Ngan, K. ZAKRZEWSKA, K. DROGOWSKA, A. BRUDNIK, A. G. Balogh, R. Kužel, L. Havela, V. Sechovsky // Advances in Natural Sciences. Nanoscience and Nanotechnology [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 2043-6262. — 2013 vol. 4 no. 2, s. 1–10, art. no. 025004. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 025004-9–025004-10, Abstr.. — K. Drogowska – dod. afiliacja: Technische Universität Darmstadt, Germany. — tekst: http://iopscience.iop.org/2043-6262/4/2/025004/pdf/2043-6262_4_2_025004.pdf

RBS, XRR and optical reflectivity measurements of ${Ti-TiO_{2}}$ thin films deposited by magnetron sputtering / K. DROGOWSKA, Z. TARNAWSKI, A. BRUDNIK, E. KUSIOR, M. SOKOŁOWSKI, K. ZAKRZEWSKA, A. Reszka, N.-T. H. Kim-Ngan, A. G. Balogh // Materials Research Bulletin ; ISSN 0025-5408. — 2012 vol. 47 iss. 2, s. 296–301. — Bibliogr. s. 301, Abstr.. — tekst: http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0025540811005460/pdfft?md5=09a5797866042a961189290bae5e80bb&pid=1-s2.0-S0025540811005460-main.pdf