Wykaz publikacji wybranego autora

Krystyna Schneider, dr inż.

adiunkt

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki

  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-4282-0050 połącz konto z ORCID

ResearcherID: H-7192-2012

Scopus: 56305636900

PBN: 5e70922c878c28a0473911db

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1

  • $Cu_2O/CuO$ thin film p-p nano-heterostructures for gas sensing / K. ZAKRZEWSKA, W. MAZIARZ, K. SCHNEIDER, M. Mazur, D. Wojcieszak, D. Kaczmarek // W: IMCS 2018 [Dokument elektroniczny] : the 17\textsuperscript{th} International Meeting on Chemical Sensors : July 15–19, 2018, Vienna, Austria : proceedings / Universität Wien. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — Wunstorf : AMA Service GmbH, 2018. — Dysk flash. — ISBN: 978-3-9816876-9-9. — S. 789–790. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 790, Abstr.

  • keywords: thin films, nano materials, CuO, gas sensors, heterostructures, Cu2O

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Wojciech Maziarz, Katarzyna Zakrzewska

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.5162/IMCS2018/P2GS.11

2

  • Impedance spectroscopy of vanadium pentoxide : [abstract] / Kamila Kluczewska, Krystyna SCHNEIDER, Małgorzata DZIUBANIUK, Jan WYRWA // W: EYEC monograph : 7\textsuperscript{th} European Young Engineers Conference : April 23–25\textsuperscript{th} 2018, Warsaw / ed. by Bartosz Nowak, [et al.]. — [Warszawa] : Warsaw University of Technology. Faculty of Chemical and Process Engineering, cop. 2018. — ISBN: 978-83-936575-5-1. — S. 512

  • keywords: electrical conductivity, defect structure, vanadium pentoxide, impendance spectroscopy

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Jan Wyrwa, Małgorzata Dziubaniuk

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3

  • Point defect structure and gas sensing properties of $V_{2}O_{5}$ thin films deposited by rf reactive sputtering / Krystyna SCHNEIDER // W: COE 2018 [Dokument elektroniczny] : 15\textsuperscript{th} international scientific conference on Optoelectronic and Electronic Sensors : 17–20 June 2018, Warsaw / Warsaw University of Technology. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Piscataway : IEEE], [2018]. — e-ISBN: 978-1-5386-4107-1. — S. [1–4]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 4, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2018-08-16. — Toż. na dysku flash. — tekst: https://ieeexplore-1ieee-1org-10000472f0018.wbg2.bg.agh.edu.pl/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=8435182

  • keywords: thin films, impedance spectroscopy, gas sensor, defect structure, reactive sputtering, vanadium pentoxide

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/COE.2018.8435182