Wykaz publikacji wybranego autora

Krystyna Schneider, dr inż.

adiunkt

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki

  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-4282-0050 połącz konto z ORCID

ResearcherID: H-7192-2012

Scopus: 56305636900

PBN: 5e70922c878c28a0473911db

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1

  • Electrical properties and defect structure of vanadium pentoxide polycrystalline / Krystyna SCHNEIDER, Kamila Kluczewska, Małgorzata DZIUBANIUK, Jan WYRWA // W: EYEC monograph : 7\textsuperscript{th} European Young Engineers Conference : April 23–25\textsuperscript{th} 2018, Warsaw / ed. by Bartosz Nowak, [et al.]. — [Warszawa] : Warsaw University of Technology. Faculty of Chemical and Process Engineering, cop. 2018. — ISBN: 978-83-936575-5-1. — S. 227–240. — Bibliogr. s. 237–240, Abstr.

  • keywords: electrochemical impedance spectroscopy, electrical conductivity, defect structure, vanadium pentoxide, metal insulator transition

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Jan Wyrwa, Małgorzata Dziubaniuk

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2

  • High temperature creep of metal oxides / Krystyna SCHNEIDER, Mieczysław RĘKAS // W: Creep / ed. Tomasz Tański. — London : IntechOpen, [2018]. — ISBN: 978-953-51-3724-5 ; e-ISBN: 978-953-51-3725-2. — S. 49–69. — Bibliogr. s. 65–69, Abstr.. — Toż online: {https://www.intechopen.com/books/creep/high-temperature-creep-of-metal-oxides} [2018-09-15]

  • keywords: diffusion, non stoichiometry, defect structure, high temperature creep of metal oxides

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Mieczysław Rękas

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.5772/intechopen.70876

3
4

  • $V_2O_5$ thin films as nitrogen dioxide sensors / Krystyna SCHNEIDER, Wojciech MAZIARZ // Proceedings (MDPI) [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 2504-3900. — 2018 vol. 2 art. no. 759, s. 1–5. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 4–5, Abstr.. — Eurosensors 2018 Conference : Graz, Austria, 9–12 September 2018. — tekst: https://www.mdpi.com/2504-3900/2/13/759/pdf

  • keywords: thin film, electrical properties, gas sensor, vanadium pentoxide, nitrogen dioxide, rf reactive sputtering

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Wojciech Maziarz

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.3390/proceedings2130759

5

  • $V_2O_5$ thin films as nitrogen dioxide sensors / Krystyna SCHNEIDER, Wojciech MAZIARZ // Sensors [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1424-8220. — 2018 vol. 18 iss. 12 art. no. 4177, s. 1–11. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 8–11, Abstr.. — Eurosensors 2018 Conference : Graz, Austria, 9–12 September 2018. — tekst: https://www.mdpi.com/1424-8220/18/12/4177/pdf

  • keywords: thin film, electrical properties, gas sensor, reactive sputtering, vanadium pentoxide, nitrogen dioxide, metal insulator transition

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Wojciech Maziarz

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.3390/s18124177