Wykaz publikacji wybranego autora

Krystyna Schneider, dr inż.

adiunkt

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki


  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-4282-0050 połącz konto z ORCID

ResearcherID: H-7192-2012

Scopus: 56305636900

PBN: 5e70922c878c28a0473911db

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • Defect structure of V2O5 thin film gas sensors / Krystyna SCHNEIDER // W: 14th international Conference on Optical and Electronic sensors (COE 2016) : 19–22 June 2016, Gdansk, Poland / ed. Piotr Jasiński. — Washington : Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers, cop. 2016. — (Proceedings of SPIE / The International Society for Optical Engineering ; ISSN 0277-786X ; vol. 10161). — ISBN: 9781510607804 ; e-ISBN: 9781510607811. — S. 1016109-1–1016109-9. — Bibliogr. s. 1016109-8–1016109-9, Abstr.

  • keywords: thin film, electrical conductivity, defect structure, vanadium pentoxide, impendance spectroscopy

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1117/12.2244583