Wykaz publikacji wybranego autora

Krystyna Schneider, dr inż.

adiunkt

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki


  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-4282-0050 połącz konto z ORCID

ResearcherID: H-7192-2012

Scopus: 56305636900

PBN: 5e70922c878c28a0473911db

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • Defect chemistry in binary and ternary metal oxides / Krystyna SCHNEIDER, Mieczysław RĘKAS // W: Switching effects : in transition metal oxides / ed. by Krystian Roleder, Krzysztof S. Szot, Franciszek Krok. — Warszawa : Wydawnictwo Naukowe PWN, 2021. — ISBN: 978-83-012-1316-9 ; e-ISBN: 978-83-01-21695-5. — S. 51–91. — Bibliogr. s. 87–91, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
3
  • Defect structure of V2O5 thin film gas sensors / Krystyna SCHNEIDER // W: 14th international Conference on Optical and Electronic sensors (COE 2016) : 19–22 June 2016, Gdansk, Poland / ed. Piotr Jasiński. — Washington : Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers, cop. 2016. — (Proceedings of SPIE / The International Society for Optical Engineering ; ISSN 0277-786X ; vol. 10161). — ISBN: 9781510607804 ; e-ISBN: 9781510607811. — S. 1016109-1–1016109-9. — Bibliogr. s. 1016109-8–1016109-9, Abstr.

  • keywords: thin film, electrical conductivity, defect structure, vanadium pentoxide, impendance spectroscopy

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1117/12.2244583

4
  • Electrical and gas sensing properties of vanadium pentoxide thin films deposited by rf reactive sputtering / K. SCHNEIDER // W: SEIA'17 [Dokument elektroniczny] : Sensor and Electronic Instrumentation Advances : proceedings of the 3\textsuperscript{rd} international conference on Sensors and Electronic Instrumentation Advances : 20–22 September 2017, Moscow, Russia / ed. by Sergey Y. Yurish. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [S. l.] : International Frequency Sensor Association (IFSA) Publishing, S. L., cop. 2017. — Dysk Flash. — e-ISBN: 978-84-697-5615-7. — S. 151–153. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 153, Summ.

  • keywords: thin films, impedance spectroscopy, conductivity, gas sensor, defect structure, reactive sputtering, vanadium pentoxide, flammable gases sensing

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5
  • Electrical properties and defect structure of vanadium pentoxide polycrystalline / Krystyna SCHNEIDER, Kamila Kluczewska, Małgorzata DZIUBANIUK, Jan WYRWA // W: EYEC monograph : 7\textsuperscript{th} European Young Engineers Conference : April 23–25\textsuperscript{th} 2018, Warsaw / ed. by Bartosz Nowak, [et al.]. — [Warszawa] : Warsaw University of Technology. Faculty of Chemical and Process Engineering, cop. 2018. — ISBN: 978-83-936575-5-1. — S. 227–240. — Bibliogr. s. 237–240, Abstr.

  • keywords: electrochemical impedance spectroscopy, electrical conductivity, defect structure, vanadium pentoxide, metal insulator transition

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

6
7
  • High temperature creep of metal oxides / Krystyna SCHNEIDER, Mieczysław RĘKAS // W: Creep / ed. Tomasz Tański. — London : IntechOpen, [2018]. — ISBN: 978-953-51-3724-5 ; e-ISBN: 978-953-51-3725-2. — S. 49–69. — Bibliogr. s. 65–69, Abstr.. — Toż online: {https://www.intechopen.com/books/creep/high-temperature-creep-of-metal-oxides} [2018-09-15]

  • keywords: diffusion, non stoichiometry, defect structure, high temperature creep of metal oxides

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.5772/intechopen.70876

8
9
10
  • Nanocząstki na bazie ${Fe}$ i ${Fe_{3}O_{4}}$ w otoczkach węglowych jako kontrasty MRI[Nanoparticles based of ${Fe}$ and ${Fe_{3}O_{4}}$ in carbon areolas as a MRI constrast] / Krystyna SCHNEIDER, Czesław KAPUSTA, Dariusz Zając, Clara I. Marquina, M. Ricardo Ibarra, Adam Świerczyna, Andrzej Urbanik // W: II Krajowa konferencja nanotechnologii : Kraków, 25–28 czerwca 2008 : książka streszczeń. — [Kraków : Centrum Badań Układów Nanoskopowych i Zaawansowanych Materiałów, NANOSAM, Uniwersytetu Jagiellońskiego], [2008]. — S. [1]

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

11
12
  • Nowe nanomateriały magnetyczne do zastosowań w MRI[New magnetic nanomaterials for NMR applications] / Krystyna SCHNEIDER, Janusz PRZEWOŹNIK, Jan ŻUKROWSKI, Marcin SIKORA, Czesław KAPUSTA, Dariusz Zając, Mieczysław RĘKAS, Adam Świerczyna, Andrzej Urbanik // Polish Journal of Radiology ; ISSN 1733-134X. — 2010 vol. 75, s. 1–4. — Bibliogr. s. 4, Summ.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

13
14
  • Point defect structure and gas sensing properties of $V_{2}O_{5}$ thin films deposited by rf reactive sputtering / Krystyna SCHNEIDER // W: COE 2018 [Dokument elektroniczny] : 15\textsuperscript{th} international scientific conference on Optoelectronic and Electronic Sensors : 17–20 June 2018, Warsaw / Warsaw University of Technology. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Piscataway : IEEE], [2018]. — e-ISBN: 978-1-5386-4107-1. — S. [1–4]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 4, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2018-08-16. — Toż. na dysku flash. — tekst: https://ieeexplore-1ieee-1org-10000472f0018.wbg2.bg.agh.edu.pl/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=8435182

  • keywords: thin films, impedance spectroscopy, gas sensor, defect structure, reactive sputtering, vanadium pentoxide

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/COE.2018.8435182

15
16
  • Self-cleaning layers of $TiO_{2}$ on the brick surfacesSamoczyszczące warstwy $TiO_{2}$ na powierzchniach cegieł / Stanisław KOMORNICKI, Mieczysław RĘKAS, Krystyna SCHNEIDER, Jan WYRWA // Materiały Ceramiczne = Ceramic Materials / Polskie Towarzystwo Ceramiczne, Kraków ; ISSN 1644-3470. — Tytuł poprz.: Ceramika. Materiały Ogniotrwałe ; ISSN: 1505-1269. — 2013 t. 65 nr 2, s. 130–134. — Bibliogr. s. 134, Abstr.. — tekst: http://ptcer.pl/pobierz/850

  • słowa kluczowe: cegła ceramiczna, TiO2, fotokataliza, warstwa samoczyszcząca

    keywords: TiO2, ceramic brick, photocatalysis, self cleaning layer

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

17
  • Structural and optical properties of $VO_{x}$ thin filmsWłasności strukturalne i optyczne cienkich warstw $VO_{x}$ / K. SCHNEIDER // Archives of Metallurgy and Materials / Polish Academy of Sciences. Committee of Metallurgy. Institute of Metallurgy and Materials Science ; ISSN 1733-3490. — 2015 vol. 60 iss. 2A, s. 957–961. — Bibliogr. s. 961. — W bazie Web of Science oznaczenie issue: 2

  • keywords: microstructure, thin films, optical properties, VOx, reactive sputtering, energy band gap

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1515/amm-2015-0238

18
19
  • $V_2O_5$ thin films as nitrogen dioxide sensors / Krystyna SCHNEIDER, Wojciech MAZIARZ // Proceedings (MDPI) [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 2504-3900. — 2018 vol. 2 art. no. 759, s. 1–5. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 4–5, Abstr.. — Eurosensors 2018 Conference : Graz, Austria, 9–12 September 2018. — tekst: https://www.mdpi.com/2504-3900/2/13/759/pdf

  • keywords: thin film, electrical properties, gas sensor, vanadium pentoxide, nitrogen dioxide, rf reactive sputtering

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.3390/proceedings2130759

20
  • $V_2O_5$ thin films as nitrogen dioxide sensors / Krystyna SCHNEIDER, Wojciech MAZIARZ // Sensors [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1424-8220. — 2018 vol. 18 iss. 12 art. no. 4177, s. 1–11. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 8–11, Abstr.. — Eurosensors 2018 Conference : Graz, Austria, 9–12 September 2018. — tekst: https://www.mdpi.com/1424-8220/18/12/4177/pdf

  • keywords: thin film, electrical properties, gas sensor, reactive sputtering, vanadium pentoxide, nitrogen dioxide, metal insulator transition

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.3390/s18124177

21
  • $V_{2}O_{5}$ thin films for gas sensor applications / Krystyna SCHNEIDER, Maria LUBECKA, Adam CZAPLA // Sensors and Actuators. B, Chemical ; ISSN 0925-4005. — 2016 vol. 236, s. 970–977. — Bibliogr. s. 976–977, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2016-04-16. — tekst: http://goo.gl/x8SPzk

  • keywords: thin films, gas sensors, impedance spectroscopy, vanadium pentoxide

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.snb.2016.04.059

22
  • $VO_{x}$ thin films deposited by reactive RF sputtering / K. SCHNEIDER, K. DROGOWSKA, A. G. Balogh, Z. TARNAWSKI, N.-T. H. Kim-Ngan, K. ZAKRZEWSKA // W: Reaktywność ciał stałych = Reactivity of solids / pod red. K. Przybylskiego; Polska Akademia Nauk – Oddział w Krakowie, Polskie Towarzystwo Ceramiczne. — Kraków : Polskie Towarzystwo Ceramiczne, 2013 + CD. — (Prace Komisji Nauk Ceramicznych / Polska Akademia Nauk. Oddział w Krakowie. Ceramika ; ISSN 0860-3340 ; vol. 115). — ISBN: 978-83-63663-37-7. — S. 305–314. — Bibliogr. s. 313–314, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

23
24
25