Wykaz publikacji wybranego autora

Michał Ślęzak, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej
WFiIS-kfc, Katedra Fizyki Ciała Stałego


  • 2020

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa (25%)


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk ścisłych / dziedzina nauk fizycznych / fizyka


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-5715-5298 orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 55633591700

PBN: 5e709208878c28a04738eeb2

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • Adsorption induced in plane magnetic anisotropy in epitaxial bcc Co/Fe films / M. ŚLĘZAK, T. ŚLĘZAK, P. DRÓŻDŻ, K. MATLAK, J. KORECKI // W: MMM 2017 [Dokument elektroniczny] : 62\textsuperscript{nd} annual conference on Magnetism and Magnetic Materials : Pittsburgh, [USA], November 6–10, 2017 : abstracts. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Pittsburgh : s. n.], [2017]. — S. 666. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: http://magnetism.org/doc/abstract_book_62.pdf [2018-01-12]. — Bibliogr. s. 666. — J. Korecki - dod. afiliacja: Jerzy Haber Institute of Catalysis and Surface Chemistry PAS, Krakow

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
3
  • LEEM study of high-temperature oxygen structures on W(110) and their transformations / Tomasz GIELA, Dorota Wilgocka-Ślęzak, Michał ŚLĘZAK, Nika Spiridis, Józef KORECKI // Applied Surface Science ; ISSN 0169-4332. — Tytuł poprz.: Applications of Surface Science. — 2017 vol. 425, s. 314–320. — Bibliogr. s. 320, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2017-07-06. — T. Giela, J. Korecki – dod. afiliacja: Jerzy Haber Institute of Catalysis and Surface Chemistry. — tekst: https://goo.gl/CfcWjn

    orcid iD
  • keywords: oxidation, tungsten, low energy electron diffraction, LEED, dark-field imaging, structural domains, low energy electron microscopy, LEEM

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.apsusc.2017.07.020