Wykaz publikacji wybranego autora

Marek Bielewski, mgr

Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej
WFiIS-kzfj, Katedra Zastosowań Fizyki Jądrowej

Identyfikatory Autora	Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych
ORCID: brak ResearcherID: brak Scopus: brak	OPI Nauka Polska

Identyfikatory Autora

Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: brak

wydruk:

sortowanie:

1

Quantitative elemental microanalysis of individual particles with use of X-ray fluorescence method and Monte Carlo simulation
Quantitative elemental microanalysis of individual particles with use of X-ray fluorescence method and Monte Carlo simulation / M. CZYŻYCKI, M. LANKOSZ, M. BIELEWSKI // W: ICXOM20 : 20\textsuperscript{th} International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis : Karlsruhe, Germany 2009 : book of abstracts. — [Karlsruhe : s. n.], [2009]. — S. 93. — Pełny tekst W: ICXOM20 : X-ray optics and microanalysis : proceedings of the 20th international congress : Karlsruhe, Germany : 15–18 September 2009 / Melissa A. Denecke, Clive T. Walker. — New York : American Institute of Physics, 2010. — (AIP Conference Proceedings ; 1221). — S. 98–100. — Bibliogr. s. 100, Abstr.