doktorant
Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej WFiIS-kfms, Katedra Fizyki Materii Skondensowanej
ORCID: brak
ResearcherID: brak
Scopus: brak
Badanie własności strukturalnych polialkilotiofenów metodą dynamiki molekularnej — [Structural properties of poly(alkylthiophenes) studied by molecular dynamics simulations] / Konrad PIWOWARCZYK, Wojciech ŁUŻNY // Prace Naukowe Akademii im. Jana Długosza w Częstochowie. Fizyka ; ISSN 2082-0288. — 2005 z. 6–7 Cz. 1 / pod red. Janusza Berdowskiego Cz. 2 / pod red. Józefa Świątka, Stanisława Tkaczyka i Arkadiusza Mandowskiego, s. 353–356. — Bibliogr. s. 356
brak zdefiniowanych słów kluczowych
Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Wojciech Łużny
cyfrowy identyfikator dokumentu:
PVI – nowa technologia wskaźników obecności napięcia — PVI – new technology of indicators of voltage presence / Jan Czyżewski, Przemysław Burzyński, Maciej Wnęk, Marek Florkowski, Mariusz Luto, Konrad PIWOWARCZYK // Przegląd Elektrotechniczny. Konferencje ; ISSN 1731-6103. — 2005 R. 3 [nr] 1, s. 62–65. — Bibliogr. s. 65, Streszcz., Abstr.. — EUI 2005 : problemy Eksploatacji Układów Izolacyjnych wysokiego napięcia : jubileuszowe X sympozjum : Krynica, 27–30 września 2005
słowa kluczowe: pole elektryczne, wskaźnik obecności napięcia, ciekłe kryształy, wyświetlacze elektroforetyczne
Structural properties of poly(alkyl thiophene)s studied by computer simulation methods / K. PIWOWARCZYK, W. ŁUŻNY // W: VI International polymer seminar : Gliwice 2005 : Gliwice, June 23, 2005 / Silesian University of Technology. Department of Physical Chemistry and Technology of Polymers, Gliwice, Polish Academy of Sciences. Institute of Coal Chemistry, Gliwice. — [Gliwice : s. n.], [2005]. — Na okł. dodatkowo: 60 years Faculty of Chemistry Silesian University of Technology. — S. 43
Structural properties of poly-alkylthiophenes studied by computer simulation methods / Konrad PIWOWARCZYK, Wojciech ŁUŻNY // Fibres & Textiles in Eastern Europe ; ISSN 1230-3666. — 2005 vol. 13 no. 5, s. 100–102. — Bibliogr. s. 102, Abstr.. — XIPS 2004 : 6th International Conference on X-Ray Investigationsl of Polymer Structure : Ustron, Poland, December 2004 Date: DEC, 2004. — tekst: http://www.fibtex.lodz.pl/53_24_100.pdf
keywords: X-ray analysis, poly-alkylthiophene, molecular dynamic simulation