Wykaz publikacji wybranego autora

Piotr Wiącek, dr inż.

adiunkt

Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej
WFiIS-kod, Katedra Oddziaływań i Detekcji Cząstek

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk ścisłych / dziedzina nauk fizycznych / fizyka

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-6970-7360 orcid iD

ResearcherID: A-2103-2017

Scopus: 6506367129

PBN: 5e709208878c28a04738eebe

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1

  • A new full-field XRF imaging system for non-invasive investigation of paintings / B. M. WRÓBEL, T. FIUTOWSKI, [et al.], S. KOPERNY, M. LANKOSZ, [et al.], B. MINDUR, A. SIKORSKA, K. ŚWIENTEK, P. WIĄCEK, W. DĄBROWSKI // W: EXRS2016 : European conference on X-Ray Spectrometry : June 19–24, 2016, Gothenburg, Sweden : program and book of abstracts. — Gothenburg : University of Gothenburg, 2016. — Opis częśc. wg okł.. — S. 4. — Bibliogr. s. 4. — Błędny zapis inicjału imienia autora: B. M. Wróbel

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2

  • Application of GEM-based detectors in full-field XRF imaging / W. DĄBROWSKI, T. FIUTOWSKI, P. Frączek, S. KOPERNY, M. LANKOSZ, A. Mendys, B. MINDUR, K. ŚWIENTEK, P. WIĄCEK, P. M. WRÓBEL // Journal of Instrumentation [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1748-0221. — 2016 vol. 11 art. no. C12025, s. [1–2], 1–8. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 8, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2016-12-13. — 18th International Workshop on Radiation Imaging Detectors (IWORID2016) : 3–7 July 2016, Barcelona, Spain. — tekst: https://goo.gl/UUrO6M

  • keywords: inspection with X-rays, XRF, GEM, MICROMEGAS, micropattern gaseous detectors, X-ray fluorescence systems, MSGC, THGEM, RETHGEM, MHSP, MICROPIC, InGrid

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1088/1748-0221/11/12/C12025

3
4

  • Low dose radiation damage effects in silicon strip detectors / P. WIĄCEK, W. DĄBROWSKI // Journal of Instrumentation [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1748-0221. — 2016 vol. 11 art. no. C11015, s. [1], 1–8. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 8, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2016-11-14. — 18\textsuperscript{th} international workshop on radiation imaging detectors : 3–7 July 2016, Barcelona, Spain. — tekst: https://goo.gl/JJJujG

  • keywords: radiation damage evaluation methods, Si microstrip and pad detectors, X-ray detectors

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Władysław Dąbrowski

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1088/1748-0221/11/11/C11015