Charakterystyka elektrolitycznych powłok Cu przy zastosowaniu rentgenowskich metod dyfrakcyjnych — [Characterisation of Cu electrolytic coatings using the X-ray diffraction methods] / Stanisław SKRZYPEK, Wiktoria RATUSZEK, Małgorzata WITKOWSKA, Adam BUNSCH, Krzysztof CHRUŚCIEL // W: 50 Konwersatorium Krystalograficzne : II sesja naukowa PTK : Wrocław, 26–28 VI 2008 : program, streszczenia komunikatów, lista uczestników i autorów prac = Polish Crystallographic Meeting / Komitet Krystalografii PAN, Polskie Towarzystwo Krystalograficzne, Instytut Niskich Temperatur i Badań Strukturalnych PAN. — [Wrocław : s. n], [2008]. — S. 280–281. — Bibliogr. s. 281

Oddziaływanie ciekłego stopu kobaltu MAR-M509 na powierzchnię wnęki wielowarstwowej formy ceramicznej — Reaction molten MAR-M509 cobalt alloy on the surface cavity of multilayer ceramic mould / Z. Opiekun, W. Orłowicz, W. RATUSZEK // Archives of Foundry Engineering / Polish Academy of Sciences. Commission of Foundry Engineering ; ISSN 1897-3310. — Tytuł poprz.: Archiwum Odlewnictwa. — 2008 vol. 8 spec. iss. 1, s. 233–236. — Bibliogr. s. 235–236, Streszcz., Abstr.. — tekst: http://goo.gl/778CVG

Oddziaływanie ciekłego stopu kobaltu MAR-M509 na powierzchnię wnęki wielowarstwowej formy ceramicznej — Reaction molten MAR-M509 cobalt alloy on the surface cavity of multilayer ceramic mould / Z. Opiekun, W. Orłowicz, W. RATUSZEK // W: Zapewnienie jakości w odlewnictwie 2008 [Dokument elektroniczny] : IX międzynarodowa konferencja naukowa : Szklarska Poręba, 13–16 maja 2008 / Politechnika Wrocławska. Wydział Mechaniczny. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Wrocław : Politechnika Wrocławska], [2008]. — 1 dysk optyczny. — S. [1–4]. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. [4], Streszcz., Summ.. — Tyt. przejęto z ekranu tytułowego