Wykaz publikacji wybranego autora

Adam Kruk, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kmm, Katedra Metaloznawstwa i Metalurgii Proszków


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-9269-8271 orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 7003831116

PBN: 5e70920b878c28a04738f0cc

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • 3D investigation and visualization of biomaterials at micro- and nanoscale / Joanna KARBOWNICZEK, Sara METWALLY, Piotr Szewczyk, Adam GRUSZCZYŃSKI, Adam KRUK, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ, Urszula STACHEWICZ // W: 7\textsuperscript{th} KMM-VIN industrial workshop : biomaterials: key technologies for better healthcare : programme and abstracts : 27\textsuperscript{th}-28\textsuperscript{th} September 2017, Erlangen, Germany / Institute of Biomaterials FAU Erlangen-Nuremberg, [etc.]. — [Erlangen : s. n.], [2017]. — S. 27

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • Application of 3D imaging for qualitative and quantitative characterization of gas turbine blade after service exposure / M. ZIĘTARA, A. GRUSZCZYŃSKI, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ, A. KRUK // W: XVI International conference on Electron microscopy : 10 – 13 September 2017, Jachranka, Poland : conference program and book of abstracts / Warsaw University of Technology, Polish Society for Microscopy. — [Polska : WUT], [2017]. — S. 177. — Bibliogr. s. 177

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • Application of analytical electron microscopy and FIB/SEM tomographic technique for phase analysis in as-cast Allvac 718Plus superalloy / A. KRUK, G. CEMPURA // W: XVI International conference on Electron microscopy : 10 – 13 September 2017, Jachranka, Poland : conference program and book of abstracts / Warsaw University of Technology, Polish Society for Microscopy. — [Polska : WUT], [2017]. — S. 52

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
  • Effect of postweld heat treatment on the microstructure and mechanical properties of as-cast Allvac 718Plus electron beam welded joint / O. DZIUBA, G. MICHTA, A. KRUK // W: XVI International conference on Electron microscopy : 10 – 13 September 2017, Jachranka, Poland : conference program and book of abstracts / Warsaw University of Technology, Polish Society for Microscopy. — [Polska : WUT], [2017]. — S. 72. — Bibliogr. s. 72

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5
6
  • FIB-SEM tomography in biomaterials research / J. KARBOWNICZEK, A. GRUSZCZYŃSKI, A. KRUK, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: XVI International conference on Electron microscopy : 10 – 13 September 2017, Jachranka, Poland : conference program and book of abstracts / Warsaw University of Technology, Polish Society for Microscopy. — [Polska : WUT], [2017]. — S. 93

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

7
8
  • Microstructure and mechanical properties of electron beam welded Allvac 718Plus joint : news from AGH-UST / Oskar DZIUBA, Adam KRUK // KMM-VIN Newsletter [Dokument elektroniczny] / European Virtual Institute on Knowledge-Based Multifunctional Materials AISBL. — 2017 iss. 16 Summer 2017, s. 6. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 6. — tekst: https://www.kmm-vin.eu/media/newsletter/KMM-VIN_Newsletter_no._16.pdf

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

9
  • Microstructure and phase composition of the Ag-Al film wear track: through-thickness characterization by advanced electron microscopy / O. KRYSHTAL, A. KRUK, F. Mao, U. Jansson, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: XVI International conference on Electron microscopy : 10 – 13 September 2017, Jachranka, Poland : conference program and book of abstracts / Warsaw University of Technology, Polish Society for Microscopy. — [Polska : WUT], [2017]. — S. 105. — Bibliogr. s. 105

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

10
  • Microstructure of the oxide scale formed on Allvac 718Plus superalloy during oxidation in dry- and wet air characterised by analytical electron microscopy / S. LECH, G. CEMPURA, A. Agüero, A. KRUK, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: XVI International conference on Electron microscopy : 10 – 13 September 2017, Jachranka, Poland : conference program and book of abstracts / Warsaw University of Technology, Polish Society for Microscopy. — [Polska : WUT], [2017]. — S. 112

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

11
  • Morphological evolution and X-ray investigation of $\gamma'$ precipitates in Ni based superalloy during rapid quenching / Ł. RAKOCZY, G. CEMPURA, A. KRUK, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ, A. ZIELIŃSKA-LIPIEC // W: XVI International conference on Electron microscopy : 10 – 13 September 2017, Jachranka, Poland : conference program and book of abstracts / Warsaw University of Technology, Polish Society for Microscopy. — [Polska : WUT], [2017]. — S. 53. — Bibliogr. s. 53

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

12
  • Synteza anizotropowych nanostruktur metalicznych na powierzchniach kryształów półprzewodnikowych typu AIIIBV : [abstrakt][Synthesis of anisotropic metallic nanostructures on AIIIBV semiconductor crystals surfaces : abstract] / A. Janas, B. R. Jany, K. Szajna, O. KRYSHTAL, G. CEMPURA, A. KRUK, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ, F. Krok // W: NanoMat 2017 : doktoranckie sympozjum nanotechnologii : Łódź, 19–20 czerwca 2017 r. : materiały konferencyjne. — Łódź : Wydawnictwo Politechniki Łódzkiej, [2017]. — ISBN: 978-83-7283-841-4. — S. 67. — O. Kryshtal, G. Cempura, A. Kruk, A. Czyrska-Filemonowicz - afiliacja: Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

13
  • Synteza anizotropowych nanostruktur metalicznych na powierzchniach kryształów półprzewodnikowych typu AIIIBV[Synthesis of anisotropic metallic nanostructures on AIIIBV semiconductor crystals surfaces] / A. Janas, B. R. Jany, K. Szajna, O. KRYSHTAL, G. CEMPURA, A. KRUK, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ, F. Krok // W: VIII Krajowa konferencja nanotechnologii : Łódź, 20–23 czerwca 2017 : książka abstraktów / Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej, Wydział Chemii. — Łódź : Wydawnictwo Uniwersytetu Łódzkiego, 2017. — ISBN: 978-83-8088-712-1. — S. 42. — O. Kryshtal, G. Cempura, A. Kruk, A. Czyrska-Filemonowicz - afiliacja: Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

14
  • The 3D imaging and metrology of microstructural elements in innovative materials for clean energy systems and aeronautics / Adam KRUK, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ // Materials Science Forum ; ISSN 0255-5476. — Tytuł poprz.: Diffusion and Defect Monograph Series. — 2017 vol. 879, s. 1019–1024. — Bibliogr. s. 1024, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2016-11-15. — THERMEC'2016 : 9\textsuperscript{th} international conference on processing and manufacturing of advanced materials : May 28 – 3 June 2016, Graz, Austria. — tekst: https://goo.gl/kfMTMu

  • keywords: Allvac 718Plus, STEM-EDX tomography, FIB SEM tomography

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.4028/www.scientific.net/MSF.879.1019

15
  • Wzrost krystalicznych przewodzących nanodrutów na powierzchni ${SrTiO_3}$[Growth of crystalline conductive nanowires on ${SrTiO_3}$ surface] / Dominik Wrana, [et al.], O. KRYSHTAL, G. CEMPURA, A. KRUK, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ, [et al.] // W: VIII Krajowa konferencja nanotechnologii : Łódź, 20–23 czerwca 2017 : książka abstraktów / Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej, Wydział Chemii. — Łódź : Wydawnictwo Uniwersytetu Łódzkiego, 2017. — ISBN: 978-83-8088-712-1. — S. 111. — Bibliogr. w formie przypisów

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: