Wykaz publikacji wybranego autora

Adam Kruk, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kmm, Katedra Metaloznawstwa i Metalurgii Proszków


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-9269-8271 orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 7003831116

PBN: 5e70920b878c28a04738f0cc

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • 3D imaging and metrology of yttria dispersoids in INCOLOY MA956 by electron tomography / Adam KRUK, Beata DUBIEL, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ // Diffusion and Defect Data – Solid State Data. Part B, Solid State Phenomena ; ISSN 1012-0394. — 2012 vol. 186, s. 37–40. — Bibliogr. s. 40, Abstr.. — Electron Microscopy XIV : selected peer reviewed papers from the XIV international conference on Electron Microscopy (EM 2011) : June 26–30, 2011, Wisla, Poland / ed. Danuta Stróż, Krystian Prusik. — Durnten-Zurich : Trans Tech Publications Ltd, cop. 2012. — ISBN-13 978-3-03785-381-8. — tekst: http://www.scientific.net/SSP.186.37

  • keywords: INCOLOY MA956, HAADF-STEM tomography, FIB/SEM tomography

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.4028/www.scientific.net/SSP.186.37

2
  • 3D imaging of strengthening particles in Cr-V-Mo (13HMF) steel using FIB/SEM tomography / Władysław OSUCH, Adam KRUK, Grzegorz MICHTA, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ // Diffusion and Defect Data – Solid State Data. Part B, Solid State Phenomena ; ISSN 1012-0394. — 2012 vol. 186, s. 41–44. — Bibliogr. s. 44, Abstr.. — Electron Microscopy XIV : selected peer reviewed papers from the XIV international conference on Electron Microscopy (EM 2011) : June 26–30, 2011, Wisla, Poland / ed. Danuta Stróż, Krystian Prusik. — Durnten-Zurich : Trans Tech Publications Ltd, cop. 2012. — ISBN-13 978-3-03785-381-8. — tekst: http://www.scientific.net/SSP.186.41

  • keywords: TEM, FIB/SEM tomography, 13HMF steel

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.4028/www.scientific.net/SSP.186.41

3
  • Analiza metalograficzna i akustyczna stali konstrukcyjnej z wtrąceniami niemetalicznymiMetallographic and acoustic emission analysis of structural steel with non-metallic inclusions / Adam KRUK, Grzegorz MICHTA, Artur BLUM // Energetyka (Warszawa) / Centralny Zarząd Energetyki, Stowarzyszenie Elektryków Polskich ; ISSN 0013-7294. — 2012 nr 11, s. 711–715. — Bibliogr. s. 715, Streszcz., Summ.. — Afiliacja: Akademia Górniczo-Hutnicza w Krakowie

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
  • Application of electron tomography for three-dimensional imaging and metrology of engineering materials microstructure / A. KRUK, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: STERMAT 2012 : IX international conference on Stereology and image analysis in materials : 3–6 September, 2012, Zakopane, Poland : program & abstracts. — [Poland : s. n.], [2012]. — Opis częśc. wg okł.. — S. 6. — Bibliogr. s. 6

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5
  • Contribution of electron tomography to development of innovative materials for clean energy systems and aeronautics / A. KRUK, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: 9\textsuperscript{th} Polish-Japanese joint seminar on Micro and nano analysis : 10–13 September 2012, Sieniawa, Poland : programme and abstracts. — [Poland : s. n.], [2012]. — S. 25. — Bibliogr. s. 25

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

6
  • Electron microscopy and electron tomography of materials for energy systems : Kraków, 7.12.2012 : [workshop] / ed. by Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ, Adam KRUK ; European Institute of Innovation & Technology (EIT), Knowledge and Innovation Community (KIC InnoEnergy), New Materials for Energy Systems (NewMat). — Kraków : Wydawnictwo Naukowe ”Akapit”, 2012. — 99 s.. — Bibliogr. przy rozdz.. — ISBN: 978-83-63663-08-7

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

7
  • Electron tomography : contribution of electron tomography to development of innovative materials for clean energy systems and aeronautics / Adam KRUK // W: Electron microscopy and electron tomography of materials for energy systems : Kraków, 7.12.2012 : [workshop] / ed. by Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ, Adam KRUK ; European Institute of Innovation & Technology (EIT), Knowledge and Innovation Community (KIC InnoEnergy), New Materials for Energy Systems (NewMat). — Kraków : Wydawnictwo Naukowe ”Akapit”, 2012. — ISBN: 978-83-63663-08-7. — S. 51–78

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

8
  • Microstructure characterization of the tungsten based alloys for fusion applications / G. CEMPURA, A. KRUK, C. Thomser, M. Wirtz, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: 9\textsuperscript{th} Polish-Japanese joint seminar on Micro and nano analysis : 10–13 September 2012, Sieniawa, Poland : programme and abstracts. — [Poland : s. n.], [2012]. — S. 45. — Bibliogr. s. 45

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

9
  • The 3D imaging and metrology of CMSX-4 superalloy microstructure using FIB/SEM and STEM-EDX tomography methods / A. KRUK, B. DUBIEL, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: emc2012 Manchester [Dokument elektroniczny] : proceedings of the 15th European Microscopy Congress : 16th–21st September 2012, Manchester, UK / RMS The Royal Microscopical Society, IFSM International Federation of Societies for Microscopy. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [UK : s. n.], [2012]. — 1 dysk optyczny. — S. [1–2]. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. [2]. — Tyt. przejęto z ekranu tytułowego

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

10
  • Three-dimensional visualization and metrology of nanoparticles in Inconel 718 by electron tomography / Krzysztof KULAWIK, Adam KRUK, Beata DUBIEL, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ // Diffusion and Defect Data – Solid State Data. Part B, Solid State Phenomena ; ISSN 1012-0394. — 2012 vol. 186, s. 45–48. — Bibliogr. s. 48, Abstr.. — Electron Microscopy XIV : selected peer reviewed papers from the XIV international conference on Electron Microscopy (EM 2011) : June 26–30, 2011, Wisla, Poland / ed. Danuta Stróż, Krystian Prusik. — Durnten-Zurich : Trans Tech Publications Ltd, cop. 2012. — ISBN-13 978-3-03785-381-8. — tekst: http://www.scientific.net/SSP.186.45.pdf

  • keywords: electron tomography, nano particles, Inconel 718, FIB tomography

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.4028/www.scientific.net/SSP.186.45

11
  • Tomografia elektronowa i jej zastosowanie w obrazowaniu i metrologii mikrostruktury materiałówElectron tomography and its application in imaging and metrology of the microstructure of materials / Adam KRUK. — Kraków : Wydawnictwa AGH, 2012. — 173, [1] s.. — (Rozprawy Monografie / Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie ; ISSN 0867-6631 ; 264). — Bibliogr. s. 161–[174], Streszcz., Summ.. — ISBN: 978-83-7464-553-9

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: