Wykaz publikacji wybranego autora

Jan Kusiński, prof. dr hab. inż.

emeryt

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kip, Katedra Inżynierii Powierzchni i Analiz Materiałów


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-1724-8219 połącz konto z ORCID

ResearcherID: brak

Scopus: 56039432900

PBN: 5e70920b878c28a04738f0ce

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • High temperature oxidation of the ${Al_{3}Mg_{2}}$ complex metallic alloy / M.-N. de Noirfontaine, G. Baldinozzi, M.-G. Barthés-Labrousse, J. KUSIŃSKI, G. Boëmare, M. Herinx, M. Feuerbacher // Oxidation of Metals ; ISSN 0030-770X. — 2010 vol. 73 iss. 1–2, s. 219–232. — Bibliogr. s. 231–232, Abstr.. — tekst: http://link.springer.com/content/pdf/10.1007%2Fs11085-009-9168-8.pdf

  • keywords: aluminium alloys, intermetallics, thermogravimetric analysis, oxidation kinetics, complex metallic alloys, Al3Mg2

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1007/s11085-009-9176-8

2
  • Microstructure and catalytic properties of oxide thin films deposited by PLD technique / J. KUSIŃSKI, A. KOPIA, M. CHMIELOWSKA, J. R. Gavarri // W: YUCOMAT 2010 : twelfth annual conference : Montenegro, September 6–10, 2010 : programme and the book of abstracts / ed. Dragan P. Uskoković. — Belgrade : Institute of Technical Sciences of the Serbian Academy of Sciences & Arts, cop. 2010. — S. 30

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
4
  • Microstructure and high temperature transport properties of Ca-doped nickel oxide / Ł. CIENIEK, J. KUSIŃSKI, G. Petot-Ervas, C. Petot // Journal of Microscopy ; ISSN 0022-2720. — 2010 vol. 237 iss. 3 spec. iss., s. 329–332. — Bibliogr. s. 332, Summ.. — Zastosowano procedurę peer review. — EM 2008 : XIII international conference on Electron Microscopy. — tekst: http://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1111/j.1365-2818.2009.03253.x/pdf

  • keywords: microstructure, transport properties, transmission electron microscopy, Ca-doped NiO oxide, transmission light microscopy

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1111/j.1365-2818.2009.03253.x

5
  • ${RuO_{2}}$ thin films deposited by spin coating on silicon substrates: pH-dependence of the microstructure and catalytic properties / P. Nowakowski, A. KOPIA, S. Villain, M.-A. Fremy, J. KUSIŃSKI, J.-R. Gavarri // Journal of Microscopy ; ISSN 0022-2720. — 2010 vol. 237 iss. 3 spec. iss., s. 246–252. — Bibliogr. s. 251–252, Summ.. — Zastosowano procedurę peer review. — EM 2008 : XIII international conference on Electron Microscopy

  • keywords: thin films, electron microscopy, catalysis, conductivity, ruthenium dioxide, sol-gel spin coating

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1111/j.1365-2818.2009.03236.x