Wykaz publikacji wybranego autora

Marek Lankosz, prof. dr hab. inż.

profesor zwyczajny

Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej
WFiIS-kfmb, Katedra Fizyki Medycznej i Biofizyki


  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne


  • 2019

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk ścisłych / dziedzina nauk fizycznych / biofizyka


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-3126-9806 orcid iD

ResearcherID: J-3126-2018

Scopus: 6603930187

PBN: 5e709208878c28a04738ee8c

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • Application of micro X-ray fluorescence spectrometry for localized area analysis of biological and environmental materials / John R. Sieber, Marek LANKOSZ, Magdalena BORUCHOWSKA // W: Proceedings of the 48th annual conference on Applications of X-ray analysis [Denver X-Ray Conference™] [Dokument elektroniczny] : August 2–6, 1999, Steamboat Springs, Colorado, USA. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — Newtown Square : International Centre for Diffraction Data, [1999]. — 1 dysk optyczny. — (Advances in X-ray Analysis ; ISSN 1097-0002 ; vol. 43). — S. 540–546 ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 546, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
3
  • Research quantitative X-ray fluorescence microanalysis of patterned thin films / Marek LANKOSZ, John R. Sieber, Joseph Pedulla // W: Proceedings of the 48th annual conference on Applications of X-ray analysis [Denver X-Ray Conference™] [Dokument elektroniczny] : August 2–6, 1999, Steamboat Springs, Colorado, USA. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — Newtown Square : International Centre for Diffraction Data, [1999]. — 1 dysk optyczny. — (Advances in X-ray Analysis ; ISSN 1097-0002 ; vol. 43). — S. 497–503. — Bibliogr. s. 503, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
  • Selected applications of X-ray fluorescence microanalysis / Marek LANKOSZ, John R. Sieber // W: Fizyka i jej zastosowania 24–25 czerwca 1999 : konferencja : Kraków : streszczenia = Physics and its applications 24–25 June 1999 : abstracts. — [Kraków : AGH], [1999]. — Na obwol. także: 80 lat Akademii Górniczo-Hutniczej. — S. 50. — Toż W: Fizyka i jej zastosowania = Physics and its applications : konferencja = conference : Kraków 24–25 czerwca 1999 : materiały konferencyjne / red. Krzysztof Wierzbanowski ; Wydział Fizyki i Techniki Jądrowej AGH. — Kraków : Wydział Fizyki i Techniki Jądrowej AGH, 1999. — S. 121

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: