Wykaz publikacji wybranego autora

Michał Szyper, prof. dr hab. inż.

profesor zwyczajny

* Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki
WEAIiE-km, * Katedra Metrologii


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: 6603589219

OPI Nauka Polska




1
  • Badania wrażliwości systemów pomiarowych metodami symulacyjnymi[Investigations of measurement systems sensitiveness with simulation methods] / Michał SZYPER // Pomiary, Automatyka, Kontrola / Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich. Sekcja Metrologii, Polskie Stowarzyszenie Pomiarów Automatyki i Robotyki POLSPAR ; ISSN 0032-4140. — 2002 nr 5/6, s. 10–12. — Bibliogr. s. 12, Streszcz., Abstr.. — VI konferencja automatyków : Rytro 2002 : jubileusz 50-lecia Wydziału Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektrotechniki / Zakład Metrologii Akademii Górniczo-Hutniczej. — Warszawa : Agencja Wydawnicza SIMP, 2002. — Zeszyt poświęcony działalności naukowej Zakładu Metrologii AGH – Kraków

  • słowa kluczowe: badania wrażliwości systemów pomiarowych, metody symulacyjne

    cyfrowy identyfikator dokumentu: