Wykaz publikacji wybranego autora

Michał Szyper, prof. dr hab. inż.

profesor zwyczajny

* Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki
WEAIiE-km, * Katedra Metrologii


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: 6603589219

OPI Nauka Polska




1
  • Aproksymacja hiperbolicznego okna czasowego sumą kosinusoidApproximation of the time domain hiperbolic window by the sum of cosines / Michał SZYPER // W: Modelowanie i symulacja systemów pomiarowych : materiały XV sympozjum : Krynica, 18–22 września 2005 = Measuring systems-modelling and simulation / pod red. Janusza Gajdy ; Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Katedra Metrologii. — Kraków : Wydawnictwo Katedry Metrologii AGH, 2005. — S. 89–94. — Bibliogr. s. 94, Streszcz., Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • Badania modelowe sygnałów mierzonych miernikiem uciążliwości migotania światłaModel studies on signals measured with light flicker severity meter / Andrzej BIEŃ, Michał SZYPER, Andrzej WETULA // W: Modelowanie i symulacja systemów pomiarowych : materiały XV sympozjum : Krynica, 18–22 września 2005 = Measuring systems-modelling and simulation / pod red. Janusza Gajdy ; Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Katedra Metrologii. — Kraków : Wydawnictwo Katedry Metrologii AGH, 2005. — S. 193–201. — Bibliogr. s. 200–201, Streszcz., Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • Badania modelowe systemów pomiarowychModel testing of measurement systems / Michał SZYPER // Pomiary, Automatyka, Kontrola / Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich. Sekcja Metrologii, Polskie Stowarzyszenie Pomiarów Automatyki i Robotyki POLSPAR ; ISSN 0032-4140. — 2000 R. 46, nr 9, s. 12–16. — Bibliogr. s. 16, Streszcz., Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
  • Badania modelowe systemów pomiarowychModel investigations of measurement systems / Michał SZYPER // W: Systemy pomiarowe w badaniach naukowych i w przemyśle SP'2000 : III konferencja : Zielona Góra 2000 : materiały konferencyjne / Komitet Badań Naukowych [et al.]. — Zielona Góra : Wydawnictwo Politechniki Zielonogórskiej, 2000. — ISBN10: 83-85911-56-1. — S. 9–24. — Bibliogr. s. 23–24

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5
  • Badania modelowe systemów pomiarowych w zastosowaniu do analizy ich właściwości metrologicznych oraz do optymalizacji parametrycznej[Model testing of measurement systems in application for analysis of their metrological properties and for parametric optimization] / Michał SZYPER // W: Perspektywy i prognozy rozwojowe badań na styku automatyki i metrologii : sympozjum naukowe : Szczecin–Niechorze 15–17 kwietnia 2005 : referaty. — Szczecin : Wydawnictwo Uczelniane Politechniki Szczecińskiej, 2005. — Na okł. dodatkowo: Jubileusz 70-lecia urodzin i 50-lecia pracy zawodowej Profesora Adama Żuchowskiego. — ISBN10: 8388764594. — S. 125–133. — Bibliogr. s. 132–133, Streszcz.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

6
  • Badania wrażliwości systemów pomiarowych metodami symulacyjnymi[Investigations of measurement systems sensitiveness with simulation methods] / Michał SZYPER // Pomiary, Automatyka, Kontrola / Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich. Sekcja Metrologii, Polskie Stowarzyszenie Pomiarów Automatyki i Robotyki POLSPAR ; ISSN 0032-4140. — 2002 nr 5/6, s. 10–12. — Bibliogr. s. 12, Streszcz., Abstr.. — VI konferencja automatyków : Rytro 2002 : jubileusz 50-lecia Wydziału Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektrotechniki / Zakład Metrologii Akademii Górniczo-Hutniczej. — Warszawa : Agencja Wydawnicza SIMP, 2002. — Zeszyt poświęcony działalności naukowej Zakładu Metrologii AGH – Kraków

  • słowa kluczowe: badania wrażliwości systemów pomiarowych, metody symulacyjne

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

7
  • Hiperboliczne funkcje subprostokątneHyperbolic sub-rectagular functions / Michał SZYPER // Pomiary, Automatyka, Kontrola / Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich. Sekcja Metrologii, Polskie Stowarzyszenie Pomiarów Automatyki i Robotyki POLSPAR ; ISSN 0032-4140. — 2006 [nr] 10bis wyd. spec. dodatkowe, s. 156–159. — Bibliogr. s. 159, Streszcz., Abstr.. — MiSSP '2006 : XVI sympozjum Modelowanie i Symulacja Systemów Pomiarowych : Krynica, 17–21 września 2006 r. / pod red. Janusza Gajdy ; Organ Polskiego Stowarzyszenia POLSPAR, Organ Sekcji Metrologii SIMP. — Warszawa : Agenda Wydawnicza SIMP, 2006

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

8
  • Inductance measurement / Michał SZYPER // W: The measurement, instrumentation, and sensors : handbook / ed. John G. Webster. — [Boca Raton] : CRC Press : IEEE Press, [1999]. — (Electrical Engineering Handbook Series ; ISSN 2572-7729). — e-ISBN10: 0-8493-2145-X. — S. 50-1–50-13. — Bibliogr. s. 50-13

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

9
  • Informator o metrologach współpracujących z Komitetem Metrologii i Aparatury Naukowej PAN w latach 2003–2006[Directory of scientists co-operating with Committee on Metrology and Research Equipment of the Polish Academy of Sciences in the years 2003–2006] / pod red. Michała SZYPERA. — Kraków : Uczelniane Wydawnictwa Naukowo-Dydaktyczne AGH, 2005. — 118, [1] s.. — ISBN10: 83-89388-84-7

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

10
  • Metrologia w Akademii Górniczo-Hutniczej[Metrology in University of Science and Technology] / Michał SZYPER // W: Informator o metrologach współpracujących z Komitetem Metrologii i Aparatury Naukowej PAN w latach 2003–2006 / pod red. Michała Szypera. — Kraków : Uczelniane Wydawnictwa Naukowo-Dydaktyczne AGH, 2005. — S. 115–[119]

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

11
  • Model cyfrowej wersji układu flickermetera[Model of the digital version of flickenmeter] / Andrzej BIEŃ, Michał SZYPER // W: Modelowanie i symulacja systemów pomiarowych : materiały IX sympozjum : Krynica, 20–24 września 1999 / Akademia Górniczo-Hutnicza. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Zakład Metrologii. — Kraków : Wydawnictwo ZM AGH, 1999. — ISBN10: 83-908295-3-3. — S. 247–254. — Bibliogr. s. 254, Streszcz., Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

12
  • Model study on complex modulation and demodulation of power network voltage signal loaded with time-variable impedanceBadania modelowe modulacji i demodulacji zespolonej sygnału napięcia sieci elektroenergetycznej obciążonej zmienną w czasie impedancją / Andrzej BIEŃ, Michał SZYPER, Andrzej WETULA // Metrologia i Systemy Pomiarowe = Metrology and Measurement Systems / Polska Akademia Nauk. Komitet Metrologii i Aparatury Naukowej ; ISSN 0860-8229. — 2005 vol. 12 no. 3, s. 263–274. — Bibliogr. s. 273–274, Streszcz.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

13
  • Model zjawiska modulacji amplitudy sygnału napięcia sieci elektroenergetycznej przez wolnozmienną impedancję obciążenia i jego eksperymentalna weryfikacjaAmplitude modulation of voltage-signal of electric power network by slow-changable load impedance (model of phenomenon and its experimental verification) / Andrzej BIEŃ, Józef CZAJKOWSKI, Michał SZYPER // W: Modelowanie i symulacja systemów pomiarowych : materiały X jubileuszowego sympozjum : Krynica, 18–22 września 2000 = Measuring systems-modelling and simulation : 10\textsuperscript{th} anniversary symposium / Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Zakład Metrologii. — Kraków : Wydawnictwo Zakładu Metrologii AGH, 2000. — ISBN10: 83-908295-7-6. — S. 269–275. — Bibliogr. s. 275, Streszcz., Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

14
  • Modele źródeł sygnałów wahań napięcia sieci zasilających w zastosowaniu do wzorcowania mierników migotania światłaModels of sources of voltage oscillation signals used in the application of flickermeter calibration / Andrzej BIEŃ, Michał SZYPER // Jakość i Użytkowanie Energii Elektrycznej ; ISSN 1234-6789. — 2000 t. 6 z. 1, s. 65–69. — Bibliogr. s. 69, Streszcz., Abstr.. — tekst: http://www.epqu.agh.edu.pl/archives/juee/juee_t6_z1/juee_t6_z1_07.pdf

  • słowa kluczowe: impedancja, migotanie światła, układ zasilania

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

15
  • Modelowanie i pomiary zaburzeń dolnopasmowych w sygnałach sieci elektroenergetycznejModelling and measurements of low-pass disturbances in power network signal / Andrzej BIEŃ, Michał SZYPER, Andrzej WETULA // Pomiary, Automatyka, Kontrola / Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich. Sekcja Metrologii, Polskie Stowarzyszenie Pomiarów Automatyki i Robotyki POLSPAR ; ISSN 0032-4140. — 2006 [nr] 10bis wyd. spec. dodatkowe, s. 130–134. — Bibliogr. s. 134, Streszcz., Abstr.. — MiSSP '2006 : XVI sympozjum Modelowanie i Symulacja Systemów Pomiarowych : Krynica, 17–21 września 2006 r. / pod red. Janusza Gajdy ; Organ Polskiego Stowarzyszenia POLSPAR, Organ Sekcji Metrologii SIMP. — Warszawa : Agenda Wydawnicza SIMP, 2006

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

16
  • Response and sensitivity of $TiO_{2}-SnO_{2}$ semiconducting sensors for reducing gases / Katarzyna ZAKRZEWSKA, Marta RADECKA, Michał SZYPER // W: COE 2006 : Czujniki Optoelektroniczne i Elektroniczne : IX konferencja naukowa : Kraków – Zakopane 19–22 czerwca 2006 : materiały konferencyjne / kom. red.: Elżbieta Schabowska-Osiowska, Teresa Kenig, Wojciech Maziarz ; AGH, PTTS. — Kraków : Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki Akademii Górniczo-Hutniczej, 2006. — S. 263–266. — Bibliogr. s.  266, Summ., Streszcz.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

17
  • Response and sensitivity of $TiO_{2}-SnO_{2}$ semiconducting sensors for reducing gases / Katarzyna ZAKRZEWSKA, Marta RADECKA, Michał SZYPER // W: Optoelectronic and electronic sensors VI : 19–22 June 2006, Zakopane, Poland / ed. Tadeusz Pisarkiewicz. — Bellingham ; Washington : SPIE – ISOE, cop. 2006. — (Proceedings of SPIE / The International Society for Optical Engineering ; ISSN 0277-786X ; vol. 6348). — ISBN: 978-0-8194-6432-3. — S. 63480G-1–63480G-4. — Bibliogr. s. 63480G-4, Abstr.

  • keywords: titanium dioxide, gas sensor, tin dioxide

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1117/12.721022

18
  • Sposób oceny wartości miary migotania światła w sieciach elektroenergetycznych metodą badań modelowychAn expertise of the measure of the light flickering in power networks by means of model investigation / Andrzej BIEŃ, Michał SZYPER // W: Modelowanie i symulacja systemów pomiarowych : materiały XI [jedenastego] sympozjum : Krynica, 17–21 września 2001 / Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Zakład Metrologii. — Kraków : Wydawnictwo Zakładu Metrologii AGH, 2001. — ISBN10: 8390829592. — S. 137–142. — Bibliogr. s. 142, Streszcz., Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

19
  • Testowanie modelu miernika uciążliwości migotania światła sygnałem napięcia o modulowanym kącieTesting of flickermeter model with angle-modulated voltage signal / Andrzej BIEŃ, Michał SZYPER, Andrzej WETULA // W: Modelowanie i symulacja systemów pomiarowych : materiały XIV sympozjum : Krynica, 19–23 września 2004 / pod red. Janusza Gajdy ; Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Katedra Metrologii. — Kraków : Wydawnictwo Katedry Metrologii AGH, 2004. — Na k. tyt. dodatkowo: Sympozjum zorganizowane w ramach obchodów 85-lecia Akademii Górniczo-Hutniczej im. St. Staszica w Krakowie. — ISBN10: 8391862445. — S. 133–140. — Bibliogr. s. 140, Streszcz., Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

20
  • The new measure of low-frequency disturbaces in power systemNowa miara zaburzeń niskoczęstotliwościowych w sieci energetycznej / Andrzej BIEŃ, Krzysztof DUDA, Michał SZYPER, Andrzej WETULA, Tomasz P. ZIELIŃSKI, Antoni ROZKRUT // Metrologia i Systemy Pomiarowe = Metrology and Measurement Systems / Polska Akademia Nauk. Komitet Metrologii i Aparatury Naukowej ; ISSN 0860-8229. — 2005 vol. 11 no. 2, s. 121–130. — Bibliogr. s. 129, Streszcz.. — tekst: http://www.metrology.pg.gda.pl/full/2005/M&MS_2005_121.pdf

  • keywords: voltage fluctuation, function variation, fundamental component compensation, analytical signal

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

21
  • Transformaty okien hiperbolicznychHyperbolic windows transform / Michał SZYPER // W: Modelowanie i symulacja systemów pomiarowych : materiały IX sympozjum : Krynica, 20–24 września 1999 / Akademia Górniczo-Hutnicza. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Zakład Metrologii. — Kraków : Wydawnictwo ZM AGH, 1999. — ISBN10: 83-908295-3-3. — S. 153–157. — Bibliogr. s. 157, Streszcz., Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

22
  • Zastosowanie sygnału analitycznego napięcia sieci energetycznej do oceny jakości energii elektrycznej[Application of analytic signal of power system voltage for power quality valuation] / Andrzej BIEŃ, Krzysztof DUDA, Andrzej Kapusta, Michał SZYPER, Andrzej WETULA, Tomasz ZIELIŃSKI // W: KM Kongres Metrologii : metrologia w procesie poznania : Wrocław, 6–9.09.2004 : materiały kongresowe, T. 2 / pod red. Janusza Mroczki. — [Polska : s. n.], [2004]. — S. 557–559. — Bibliogr. s. 559, Streszcz.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: