Wykaz publikacji wybranego autora

Michał Szyper, prof. dr hab. inż.

profesor zwyczajny

* Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki
WEAIiE-km, * Katedra Metrologii


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: 6603589219

OPI Nauka Polska




1
  • Badania modelowe systemów pomiarowychModel testing of measurement systems / Michał SZYPER // Pomiary, Automatyka, Kontrola / Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich. Sekcja Metrologii, Polskie Stowarzyszenie Pomiarów Automatyki i Robotyki POLSPAR ; ISSN 0032-4140. — 2000 R. 46, nr 9, s. 12–16. — Bibliogr. s. 16, Streszcz., Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • Badania wrażliwości systemów pomiarowych metodami symulacyjnymi[Investigations of measurement systems sensitiveness with simulation methods] / Michał SZYPER // Pomiary, Automatyka, Kontrola / Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich. Sekcja Metrologii, Polskie Stowarzyszenie Pomiarów Automatyki i Robotyki POLSPAR ; ISSN 0032-4140. — 2002 nr 5/6, s. 10–12. — Bibliogr. s. 12, Streszcz., Abstr.. — VI konferencja automatyków : Rytro 2002 : jubileusz 50-lecia Wydziału Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektrotechniki / Zakład Metrologii Akademii Górniczo-Hutniczej. — Warszawa : Agencja Wydawnicza SIMP, 2002. — Zeszyt poświęcony działalności naukowej Zakładu Metrologii AGH – Kraków

  • słowa kluczowe: badania wrażliwości systemów pomiarowych, metody symulacyjne

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • Hiperboliczne funkcje subprostokątneHyperbolic sub-rectagular functions / Michał SZYPER // Pomiary, Automatyka, Kontrola / Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich. Sekcja Metrologii, Polskie Stowarzyszenie Pomiarów Automatyki i Robotyki POLSPAR ; ISSN 0032-4140. — 2006 [nr] 10bis wyd. spec. dodatkowe, s. 156–159. — Bibliogr. s. 159, Streszcz., Abstr.. — MiSSP '2006 : XVI sympozjum Modelowanie i Symulacja Systemów Pomiarowych : Krynica, 17–21 września 2006 r. / pod red. Janusza Gajdy ; Organ Polskiego Stowarzyszenia POLSPAR, Organ Sekcji Metrologii SIMP. — Warszawa : Agenda Wydawnicza SIMP, 2006

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
  • Model study on complex modulation and demodulation of power network voltage signal loaded with time-variable impedanceBadania modelowe modulacji i demodulacji zespolonej sygnału napięcia sieci elektroenergetycznej obciążonej zmienną w czasie impedancją / Andrzej BIEŃ, Michał SZYPER, Andrzej WETULA // Metrologia i Systemy Pomiarowe = Metrology and Measurement Systems / Polska Akademia Nauk. Komitet Metrologii i Aparatury Naukowej ; ISSN 0860-8229. — 2005 vol. 12 no. 3, s. 263–274. — Bibliogr. s. 273–274, Streszcz.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5
  • Modele źródeł sygnałów wahań napięcia sieci zasilających w zastosowaniu do wzorcowania mierników migotania światłaModels of sources of voltage oscillation signals used in the application of flickermeter calibration / Andrzej BIEŃ, Michał SZYPER // Jakość i Użytkowanie Energii Elektrycznej ; ISSN 1234-6789. — 2000 t. 6 z. 1, s. 65–69. — Bibliogr. s. 69, Streszcz., Abstr.. — tekst: http://www.epqu.agh.edu.pl/archives/juee/juee_t6_z1/juee_t6_z1_07.pdf

  • słowa kluczowe: impedancja, migotanie światła, układ zasilania

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

6
  • Modelowanie i pomiary zaburzeń dolnopasmowych w sygnałach sieci elektroenergetycznejModelling and measurements of low-pass disturbances in power network signal / Andrzej BIEŃ, Michał SZYPER, Andrzej WETULA // Pomiary, Automatyka, Kontrola / Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich. Sekcja Metrologii, Polskie Stowarzyszenie Pomiarów Automatyki i Robotyki POLSPAR ; ISSN 0032-4140. — 2006 [nr] 10bis wyd. spec. dodatkowe, s. 130–134. — Bibliogr. s. 134, Streszcz., Abstr.. — MiSSP '2006 : XVI sympozjum Modelowanie i Symulacja Systemów Pomiarowych : Krynica, 17–21 września 2006 r. / pod red. Janusza Gajdy ; Organ Polskiego Stowarzyszenia POLSPAR, Organ Sekcji Metrologii SIMP. — Warszawa : Agenda Wydawnicza SIMP, 2006

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

7
  • Nowe układy izolatorów galwanicznych sygnałów dolnopasmowychThe new constructions of insulation amplifiers for low-pass signals / Andrzej BIEŃ, Artur BOROŃ, Michał SZYPER, Andrzej WETULA, Tadeusz ŻEGLEŃ // Pomiary, Automatyka, Kontrola / Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich. Sekcja Metrologii, Polskie Stowarzyszenie Pomiarów Automatyki i Robotyki POLSPAR ; ISSN 0032-4140. — 2009 vol. 55 nr 12, s. 1008–1011. — Streszcz., Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

8
  • Sklejany model właściwości dynamicznych elektrochemicznego czujnika tlenuA spline model of the dynamic properties of an electrochemical oxygen sensor / Tadeusz PRZYBYŁO, Michał SZYPER // Pomiary, Automatyka, Kontrola / Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich. Sekcja Metrologii, Polskie Stowarzyszenie Pomiarów Automatyki i Robotyki POLSPAR ; ISSN 0032-4140. — 2007 vol. 53 nr 9bis, s. 250–252. — Bibliogr. s. 252, Streszcz., Abstr.. — Kongres Metrologii „Metrologia – narzędzie poznania i droga rozwoju” : Kraków 9–13 września 2007, T. 1 / SIiTMP SM, PSPAiR POLSPAR. — Warszawa : Agenda Wydawnicza SIMP, 2007 + CD-ROM. — Na okł. dodatkowo: 50 Lat Katedry Metrologii AGH, 55 Lat Wydziału Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki

  • słowa kluczowe: modelowanie systemów pomiarowych, funkcje i operacje sklejane

    keywords: modelling of measuring systems, spline functions and operations

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

9
  • The new measure of low-frequency disturbaces in power systemNowa miara zaburzeń niskoczęstotliwościowych w sieci energetycznej / Andrzej BIEŃ, Krzysztof DUDA, Michał SZYPER, Andrzej WETULA, Tomasz P. ZIELIŃSKI, Antoni ROZKRUT // Metrologia i Systemy Pomiarowe = Metrology and Measurement Systems / Polska Akademia Nauk. Komitet Metrologii i Aparatury Naukowej ; ISSN 0860-8229. — 2005 vol. 11 no. 2, s. 121–130. — Bibliogr. s. 129, Streszcz.. — tekst: http://www.metrology.pg.gda.pl/full/2005/M&MS_2005_121.pdf

  • keywords: voltage fluctuation, function variation, fundamental component compensation, analytical signal

    cyfrowy identyfikator dokumentu: