Wykaz publikacji wybranego autora

Konstanty Marszałek, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki


  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-0564-5743 orcid iD

ResearcherID: G-6646-2016

Scopus: 6603361571

PBN: 5e70922c878c28a047391190

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
2
  • Carbon nanomaterials dedicated to heating systems / Grzegorz Wróblewski, Konrad Kiełbasiński, Barbara SWATOWSKA, Janusz Jaglarz, Konstanty MARSZAŁEK, Tomasz STAPIŃSKI, Małgorzata Jakubowska // Circuit World ; ISSN 0305-6120. — 2015 vol. 41 no. 3, s. 102–106. — Bibliogr. s. 105–106, Abstr.

  • keywords: carbon nanotubes, spray coating, printed electronics, graphene platelets, transparent electrodes, transparent heaters

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1108/CW-05-2015-0021

3
4
  • In-situ TEM heating of Ni/Al multilayers / Jerzy Morgiel, Maciej Szlezynger, Małgorzata Pomorska, Łukasz Maj, Konstanty MARSZAŁEK, Ryszard MANIA // International Journal of Materials Research ; ISSN 1862-5282. — Tytuł poprz.: Zeitschrift für Metallkunde. — 2015 vol. 106 iss. 7, s. 703–710. — Bibliogr. s. 710. — XV international conference on Electron microscopy : 15–18 September 2014, Cracow, Poland

  • keywords: TEM, magnetron deposition, Ni/Al multilayers, in situ heating

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.3139/146.111219

5
6
  • Sposób nanoszenia powłoki antyrefleksyjnej na powierzchnie krzemowych ogniw słonecznych technologią cieplno-chemiczną wspomaganą plazmą wyładowania jarzeniowego PECVD oraz komora próżniowa do realizacji tego sposobu[Method for applying anti-reflection coating on the surfaces of silicon solar cells using thermo-chemical technology with PECVD and a vacuum chamber for the implementation of this method] / Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie ; wynalazca: Konstanty MARSZAŁEK, Barbara SWATOWSKA, Tomasz STAPIŃSKI. — Int.Cl.: H01L 31/00\textsuperscript{(2006.01)}. — Polska. — Opis patentowy ; PL 219350 B1 ; Udziel. 2014-08-14 ; Opubl. 2015-04-30. — Zgłosz. nr P.393726 z dn. 2011-01-24. — Błędnie podano nazwisko: Stapinski Tomasz. — tekst: http://patenty.bg.agh.edu.pl/pelneteksty/PL219350B1.pdf

  • słowa kluczowe: fotowoltaika, warstwy antyrefleksyjne, plazmowo wspomagane chemiczne nanoszenie warstw PECVD

    keywords: photovoltaics, antireflecting coatings, plasma enhaced chemical vapour deposition PECVD

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

7
  • Study of structure and antireflective properties of $LaF_{3}/HfO_{2}/SiO_{2}$ and $LaF_{3}/HfO_{2}/MgF_{2}$ trilayers for UV applications / K. MARSZAŁEK, J. Jaglarz, B. Sahraoui, P. Winkowski, J. KANAK // Optical Materials ; ISSN 0925-3467. — 2015 vol. 39, s. 1–7. — Bibliogr. s. 7, Abstr.. — W bazie WoS brak autorów: P. Winkowski, J. Kanak. — tekst: https://goo.gl/nWn8cj

  • keywords: antireflective coatings, LaF3/HfO2/SiO2, LaF3/HfO2/MgF2, optical measurements

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.optimat.2014.09.041

8
  • Thermo-optical parameters of amorphous a-C:N:H layers / E. BARANIAK, J. Jaglarz, K. MARSZAŁEK, K. TKACZ-ŚMIECH // W: EYEC monograph : 4\textsuperscript{th} European Young Engineers Conference : April 27–29\textsuperscript{th} 2015, Warsaw / ed. Michał Wojasiński, Bartosz Nowak ; Scientific Club of Chemical and Process Engineering. Faculty of Chemical and Process Engineering. Warsaw University of Technology. — Warsaw : University of Technology. Faculty of Chemical and Process Engineering, cop. 2015. — Na okł. dod.: 100 lecie odnowienia tradycji Politechniki Warszawskiej. — ISBN: 978-83-936575-1-3. — S. 360

  • keywords: PACVD, ellipsometry, a-C:N:H layers, thermooptical parameters

    cyfrowy identyfikator dokumentu: