Wykaz publikacji wybranego autora

Konstanty Marszałek, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki

  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-0564-5743 orcid iD

ResearcherID: G-6646-2016

Scopus: 6603361571

PBN: 5e70922c878c28a047391190

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1

  • Magnetron sputtering of Ti/Al thin film multilayer : [poster] / K. W. MARSZAŁEK, R. MANIA, J. Morgiel, Ł. Maj // W: AOFA 18 ; SVST 8 : 18. Arbeitstagung Angewandte Oberflächenanalytik AOFA18 : Programm, Beitragskurzfassungen ; 8th Symposium on Vacuum based Science and Technology in conjunction with 13th annual Meeting of German Vacuum Society DVG : book of abstracts : Kaiserslautern, 29. September – 1. Oktober 2014 / DVG, IFOS Institut für Oberflächen und Schichtanalytik GmbH. — [Germany : DVG], [2014]. — S. 113. — Publikacja zamieszczona w części: SVST 8

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Ryszard Mania

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2

  • Optical properties of the $Al_{2}O_{3}/SiO_{2}$ and $Al_{2}O_{3}/HfO_{2}/SiO_{2}$ antireflective coatings / Konstanty MARSZAŁEK, Paweł Winkowski, Janusz Jaglarz // Materials Science Poland ; ISSN 2083-1331. — Tytuł poprz.: Materials Science (Poland) ; ISSN: 0137-1339. — 2014 vol. 32 iss. 1, s. 80–87. — Bibliogr. s. 86–87. — tekst: http://link.springer.com/content/pdf/10.2478%2Fs13536-013-0156-y.pdf

  • keywords: antireflective coatings, optical measurements, Al2O3, HfO2, SiO2

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.2478/s13536-013-0156-y

3

  • Optical surface properties of the $Si_{x}C_{y}$ layers deposited by double beam ibad method / J. Jaglarz, K. MARSZAŁEK, B. Rajchel, R. Duraj // W: ICTF 16 : 16th International Conference on Thin Films : 13–16 October, 2014, Dubrovnik, Croatia : programme and book of abstracts / eds. Nikola Radić, Hrvoje Zorc. — [Zagreb] : Croatian Vacuum Society, [2014]. — ISBN: 978-953-98154-4-6. — S. 166, P94/T9

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4

  • The elastic scattering phenomena in thin polymer layers / Janusz Jaglarz, Konstanty W. MARSZAŁEK // W: ICTF 16 : 16th International Conference on Thin Films : 13–16 October, 2014, Dubrovnik, Croatia : programme and book of abstracts / eds. Nikola Radić, Hrvoje Zorc. — [Zagreb] : Croatian Vacuum Society, [2014]. — ISBN: 978-953-98154-4-6. — S. 172, P104/T9

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: