Angle resolved scattering combined with optical profilometry as tools in thin films inspection / Janusz Jaglarz, Konstanty MARSZAŁEK, Jan Kurzyk // W: IOS'2014 : Integrated Optics – Sensors, sensing structures and methods : 3rd to 7th March 2014, Szczyrk – Beskidy Mountains, Poland : programme and abstracts. — [Gliwice : s. n.], [2014]. — S. [1]

Carbon nanomaterials dedicated to PV module heating system / Małgorzata Jakubowska, Konrad Kiełbasiński, Konstanty MARSZAŁEK, Tomasz STAPIŃSKI, Grzegorz Wróblewski, Janusz Jaglarz // W: 38th international IMAPS-CPMT Poland conference & exhibition [Dokument elektroniczny] : 21–24 September 2014, Rzeszów-Czarna, Poland : proceedings / iMAPS, [et al.]. — Wersja do Windows. — Dane testowe. — [Rzeszów : Wydział Elektrotechniki i Informatyki Politechniki Rzeszowskiej], [2014]. — Dysk Flash. — S. 1–6. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 6

Deposition and optical properties of the $LaF_{3}/HfO_{2}/MgF_{2}$ antireflective coatings / Konstanty MARSZAŁEK, Paweł Winkowski, Jacek STĘPIEŃ // W: X konferencja techniki próżni : 22–25 września 2014 : Cedzyna k. Kielc / Polskie Towarzystwo Próżniowe (PTP), Instytut Tele- i Radiotechniczny (ITR). — [Polska : s. n.], [2014]. — ISBN: 978-83-7814-314-7. — S. [1], O-7

Double target magnetron sputtering system for deposition of multilayer Ni/Al coatings / Konstanty MARSZAŁEK, Łukasz Maj, Jerzy Morgiel // W: Trzynasta krajowa konferencja elektroniki : Darłowo, 09–13.06.2014 : materiały konferencji. — Polska : [s. l.], [2014]. — Opis częśc. wg okł.. — ISBN: 978-83-934712-1-8. — S. 26. — Pełny tekst na dołączonym CD-ROMie. – S. 38–42. – Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM. – Bibliogr. s. 42, Abstr.. — K. Marszałek – afiliacja: Akademia Górniczo-Hutnicza

Investigation of TEM \emph{in-situ} heating of Ni/Al multilayers / Jerzy Morgiel, Marta Marszałek, Maciej Szlezynger, Tomasz Czeppe, Konstanty MARSZAŁEK // W: EM2014 : XV international conference on Electron Microscopy : 15–18 September, 2014, Kraków, Poland : programme and abstracts / AGH University of Science and Technology. International Centre of Electron Microscopy for Materials Science. Faculty of Metals Engineering and Industrial Computer Science, Polish Society for Microscopy, Committee of Materials Science of the Polish Academy of Sciences. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe Akapit, 2014. — Opis częśc. wg okł.. — ISBN: 978-83-63663-48-3. — S. 234–235. — Bibliogr. s. 235

Large area deposition sputtering coaters / Konstanty MARSZAŁEK // W: X konferencja techniki próżni : 22–25 września 2014 : Cedzyna k. Kielc / Polskie Towarzystwo Próżniowe (PTP), Instytut Tele- i Radiotechniczny (ITR). — [Polska : s. n.], [2014]. — ISBN: 978-83-7814-314-7. — S. [1]

Magnetron sputtering of Ti/Al thin film multilayer : [poster] / K. W. MARSZAŁEK, R. MANIA, J. Morgiel, Ł. Maj // W: AOFA 18 ; SVST 8 : 18. Arbeitstagung Angewandte Oberflächenanalytik AOFA18 : Programm, Beitragskurzfassungen ; 8th Symposium on Vacuum based Science and Technology in conjunction with 13th annual Meeting of German Vacuum Society DVG : book of abstracts : Kaiserslautern, 29. September – 1. Oktober 2014 / DVG, IFOS Institut für Oberflächen und Schichtanalytik GmbH. — [Germany : DVG], [2014]. — S. 113. — Publikacja zamieszczona w części: SVST 8

New generation of coating and TCO layers for photovoltaic applications / K. MARSZAŁEK, T. STAPIŃSKI, R. Pietruszka, S. Gierałtowska, Ł. Wachnicki, B. S. Witkowski, M. Godlewski // W: E-MRS [Dokument elektroniczny] : 2014 Fall meeting : 15\textsuperscript{th}–19\textsuperscript{th} September, Warsaw – Poland. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Poland : s. n.], [2014]. — Dysk Flash. — S. [1–2]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader

Optical surface properties of the $Si_{x}C_{y}$ layers deposited by double beam ibad method / J. Jaglarz, K. MARSZAŁEK, B. Rajchel, R. Duraj // W: ICTF 16 : 16th International Conference on Thin Films : 13–16 October, 2014, Dubrovnik, Croatia : programme and book of abstracts / eds. Nikola Radić, Hrvoje Zorc. — [Zagreb] : Croatian Vacuum Society, [2014]. — ISBN: 978-953-98154-4-6. — S. 166, P94/T9

The elastic scattering phenomena in thin polymer layers / Janusz Jaglarz, Konstanty W. MARSZAŁEK // W: ICTF 16 : 16th International Conference on Thin Films : 13–16 October, 2014, Dubrovnik, Croatia : programme and book of abstracts / eds. Nikola Radić, Hrvoje Zorc. — [Zagreb] : Croatian Vacuum Society, [2014]. — ISBN: 978-953-98154-4-6. — S. 172, P104/T9

Thermal stability of amorphous hydrogenated carbon nitride layers deposited by RF PACVD / Konstanty MARSZAŁEK, Katarzyna TKACZ-ŚMIECH, Janusz Jaglarz // W: IOS'2014 : Integrated Optics – Sensors, sensing structures and methods : 3rd to 7th March 2014, Szczyrk – Beskidy Mountains, Poland : programme and abstracts. — [Gliwice : s. n.], [2014]. — S. [1]

Właściwości optyczne pokryć antyrefleksyjnych dla zastosowań fotowoltaicznych — [Optical properties of antireflective coatings for photovoltaic applications] / Tomasz STAPIŃSKI, Konstanty MARSZAŁEK, Janusz Jaglarz // W: Trzynasta krajowa konferencja elektroniki : Darłowo, 09–13.06.2014 : materiały konferencji. — Polska : [s. l.], [2014]. — Opis częśc. wg okł.. — ISBN: 978-83-934712-1-8. — S. 123. — Pełny tekst na dołączonym CD-ROMie. — S. 374–379. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 379, Streszcz.